布鲁克的Dektak®手写分析器是超过50年的专利技术进步的顶点。他们提供可重复、可靠和准确的测量-从传统的台阶高度测量和二维粗糙度表面表征,到先进的3D映射和薄膜应力分析。Dektak表面轮廓仪已被广泛接受为测量薄膜厚度、应力、表面粗糙度和形状的金标准,应用领域从学术研究到半导体过程控制。
Dektak品牌拥有第一个薄膜测量剖面仪,第一个基于微处理器的剖面仪,第一个具有3D功能的剖面仪,第一个基于pc的剖面仪,第一个自动化的300mm剖面仪。现在,DektakXT作为第一个实现单拱设计的手写笔分析器,第一个结合简单和可靠的手写笔交换,第一个利用64位并行处理架构,以实现最佳测量和运行效率的开创性“第一”遗产。
我们的网络研讨会涵盖最佳实践,介绍新产品,为棘手问题提供快速解决方案,并为新应用、模式或技术提供想法。
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术,帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系在工具出售后很长一段时间内通过培训和延伸服务持续下去。bob电竞官方网站
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