Bruker的Dektak®Sydus探查器是超过五十年的专有技术进步的高潮。它们提供可重复,可靠和准确的测量 - 从传统的步高测量和2D粗糙度表面表征到高级3D映射和胶片应力分析。Dektak Surface Profilers已被广泛接受为测量薄膜厚度,应力,表面粗糙度和不同应用领域的薄膜厚度,应力,表面粗糙度和形式的金标准,从学术研究到半导体过程控制。
Dektak品牌拥有第一台薄膜测量轮廓仪、第一台基于微处理器的轮廓仪、第一台具有3D功能的轮廓仪、第一台基于PC的轮廓仪和第一台自动化300mm轮廓仪。现在,DektakXT延续了这一开创性的“第一”传统,成为第一个实现单拱设计的触针轮廓仪,第一个集成了简单可靠的触针交换,第一个利用64位并行处理架构实现最佳测量和操作效率。
我们的网络研讨会涵盖了最佳实践,引入新产品,为棘手的问题提供快速解决方案,为新的应用,模式或技术提供想法。
Bruker与客户合作解决现实世界的应用问题。我们开发下一代技术,帮助客户选择合适的系统和配件。该伙伴关系继续通过培训和扩展服务,在销售工具后很久。bob电竞官方网站
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。bob电竞官方网站