半导体的研发

声子是固体样品中量子化的晶格振动，通常可以在远或中红外光谱范围内测量，例如通过反射或透射光谱。声子能量、能带形状等可以揭示样品结构和质量的重要信息。布鲁克研究的FT-IR光谱仪可以覆盖非常宽的光谱范围，特别是真空光谱仪是远红外声子光谱的理想选择。专用的样品室配件，包括低温恒温器适应，提供各种实验选择。

光致发光(PL)光谱是半导体研发的重要工具。由激光激发引起的样品发射可以深入了解例如能带结构和电荷载流子的细节。基于其FT-IR研发光谱仪，Bruker提供专用PL模块，具有多种选择，包括低温恒温器适配。对于最苛刻的中红外PL情况，适用于VERTEX 80v真空光谱仪的专用真空PL模块具有独特的步进扫描性能，是最强大的解决方案。

除了光致发光光谱外，还可以通过透射光谱来研究半导体的能带、激子和其他电子特性。由于布鲁克FT-IR研发光谱仪的独特通用性，这是可能的非常宽的光谱范围，从远红外甚至VIS/UV范围。对于最高灵敏度，真空光谱仪与完全真空光学台，允许去的极限。专用配件可实现各种实验设置。

半导体异质结构是纳米结构，通常是周期性的半导体结构，如量子阱、超晶格、量子点等。除了光致发光光谱，布鲁克FT-IR研发光谱仪的反射或透射光谱也可以是有价值的工具。