半导体研发

声子位在固态样品中量化晶格振动，并且通常可以在远程或中红外光谱范围内测量，例如，通过反射率或透射光谱。Phonon能量，乐队形状等可以揭示有关样品结构和质量的宝贵信息。Bruker Research FT-IR光谱仪可以覆盖极宽的光谱范围，特别是真空光谱仪是远红外声子位光谱的理想选择。专用样品舱配件，包括低温仪适应，提供各种实验选择。

光致发光（PL）光谱是半导体研发的重要工具。激光激发引起的样品发射对例如，深入了解。频段结构和充电载波细节。基于其FT-IR R＆D光谱仪，Bruker提供专用的PL模块，具有各种选项，包括例如：低温恒温器适应。对于最苛刻的中红外线PL案例，专用真空PL模块适用于顶点80V真空光谱仪，其独特的阶梯扫描性能是最强大的解决方案。

除了光致发光光谱，带隙，激动子和半导体的其他电子特征的研究可以为例如：也通过透射光谱完成。由于Bruker FT-IR R＆D光谱仪的独特性，这在非常广泛的光谱范围内，即使是VIS / UV范围也是如此。对于最高灵敏度，具有完全抽空的光学替补座的真空光谱仪，允许限制。专用配件允许实现各种实验设置。

半导体异质结构是纳米结构的并且通常是光致发光光谱的量子阱，超格子，量子点等的周期性半导体结构，也可以是Bruker FT-IR R＆D光谱仪的反射率或透射光谱可以是有价值的工具。