OPTIMUS 2

我们新的、增强的TKD解决方案建立在现有的轴上TKD无与伦比的性能之上，通过添加多个新的硬件选项、附件和软件功能。最重要的变化是OPTIMUS 2探测器头的发布，这是与丹麦DTU Nanolab正在进行合作的结果。它的新成像能力和改进的设计，加上新的和创新的软件功能，将使:

• 原位实验的新分析能力
• 达到比以前更好的空间分辨率
• 卓越的数据质量和数据完整性
• 改善用户体验
• 对某些应用的生产率有重大提升
  

• OPTIMUS Vue屏幕中心有一个硅二极管，用于像亮场(BF)一样的成像
  
• 先进的合金，能将对电子束的干扰降到最低
• 额外的新型薄膜在屏幕有源层结构中提高信号质量
• 优化的屏幕框架设计，提高用户体验
• OPTIMUS 2将继续兼容标准的TKD屏幕(没有中心二极管)

• 提高空间分辨率通过OPTIMUS Vue的中心二极管，在获得TKD图之前，为优化光束聚焦和散光设置提供了理想的条件。
• 接近实时的可视化电子透明样品在SEM在原位实验期间使用新的ESPRIT TRM特征进行时间解决的测量。
• 改进的数据完整性-高质量和高细节bf类图像是ESPRIT漂移校正功能所使用的图像相关算法的理想输入数据。由此产生的漂移校正精度增益将对TKD图特别有利，在TKD图中，即使一个光束或样本漂移只有几十纳米，也会在图中产生可见的伪影。
• 生产力的提高- bf类图像可以使用新的ESPRIT MaxYield特性进行二值化，随后用作掩模，用于在稀疏样本上高效映射感兴趣的区域，如纳米颗粒或纳米棒。
• 方便、高效、成功在新的ESPRIT FIL TKD（全浸没镜头TKD）功能的校准过程中，首次使用全浸透镜模式的TKD映射，也知道某些电子列的超高分辨率（UHR）模式。