OPTIMUS 2
Highlights
Brukers branchenführende TKD-Lösung ist jetzt noch besser!
Unsere neue, erweiterte TKD-Lösung baut auf der unübertroffenen Leistung des bestehenden On-Axis TKD Modells durch die Integration von neuen Hardwareoptionen, Softwarefunktionen und durchdachtem Zubehör auf. Die wichtigste Neuerung ist die Markteinführung des OPTIMUS 2 Detektorkopfes, ein Ergebnis der kontinuierlichen Zusammenarbeit mit dem DTU Nanolab in Dänemark. Seine neuen Bildgebungsmöglichkeiten und sein verbessertes Design in Kombination mit neuen, innovativen Softwarefunktionen ermöglichen:
- neue Analyse-Optionen für In-situ-Experimente
- noch bessere räumliche Auflösung als bisher
- überragende Datenqualität und Datenintegrität
- verbesserte Benutzererfahrung
- erhebliche Produktivitätssteigerung in bestimmten Anwendungsbereichen
- OPTIMUS Vue-Phosphorschirm mit einer Si-Diode im Zentrum für Hellfeld-ähnliche Bildgebung
- Spezial-Legierung zur Minimierung der Interferenzen mit dem Elektronenstrahl des Elektronenmikroskops
- Zusätzliche neue Dünnschicht in der aktiven Schichtstruktur des Phosphorschirms für verbesserte Signalqualität
- Optimiertes Rahmendesign zur besseren Handhabung
- Standard-TKD-Phosphorschirm (ohne Mitteldiode) auch kompatibel mit OPTIMUS 2
Vorteile
REM Messungen im Transmissionsmodus (STEM) kombiniert mit EDS und TKD Mapping
Die Mitteldiode des OPTIMUS Vue ermöglicht Hellfeld-ähnliche Bilder in On-Axis TKD-Mapping-Position: dadurch erschließen sich neue Anwendungsmöglichkeiten und die Gesamtsystemleistung zur Charakterisierung von Nanomaterialien und Nanostrukturen wird weiter verbessert
Hauptvorteile der neuen STEM-im-REM-Fähigkeit von OPTIMUS Vue
Verbesserte räumliche Auflösungdurch die Mitteldiode von OPTIMUS Vue, damit ergeben sich ideale Bedingungen zur Optimierung des Strahlfokus und Astigmatismuseinstellung vor der Aufnahme eines TDK-Maps.
Nahezu Echtzeit-Visualisierungvon elektronentransparenten Proben bei In-situ-Experimenten im REM mit der neuen ESPRIT TRM-Funktion für zeitaufgelöste Messungen.
Optimierte Datenintegrität——hochwertige和detailreiche Hellfeld-ahnliche Bilder sind die ideale Basis für die Bildkorrelationsalgorithmen, die von der ESPRIT DriftCorrection-Funktion verwendet werden. Die daraus resultierenden Vorteil bei der Driftkorrekturgenauigkeit sind besonders hilfreich für TKD-Maps, bei denen selbst eine Strahl- oder Probendrift von nur wenigen Dutzend Nanometern sichtbare Artefakte im Mapping erzeugt.
Produktivitätssteigerung– Hellfeld-ähnliche Bilder können mit der neuen ESPRIT MaxYield-Funktion binarisiert und anschließend als Maske zum effizienten Mappen von interessierenden Bereichen auf Proben mit geringer Belegung, wie beispielweise Nanopartikeln oder Nanostäben, verwendet werden.
Komfort, Effizienz und Erfolgwährend des Kalibriervorgangs dank der neuen ESPRIT FIL TKD (Full Immersion Lens TKD) Funktion, die zum ersten Mal überhaupt TKD-Mappings im Immersionslinsentechnologie-Modus, auch bekannt als Ultra-High-Resolution (UHR) Modus, bestimmter Elektronensäulen ermöglicht.
