Nanostar

The NANOSTAR with its incomparable modularity is the ideal tool for characterization of nanostructures and nanostructured surfaces by Small-Angle X-Ray Scattering (SAXS), Grazing-Incidence Small-Angle X-ray Scattering (GI-SAXS), Wide-Angle X-Ray Scattering (WAXS), and Nanography. The mirror-conditioned pinhole collimation system produces a parallel, ideal circular beam shape with high intensity and low parasitic scatter. The extra-large (XL) sample chamber accommodates a variety of dedicated and 3rd party sample stages for measurements of many sample types under all conditions. Finally the scattered signal is collected with a large, low background, highly sensitive 2D detector for isotropic and anisotropic samples.

这种独特的X射线源可提供非常稳定和强烈的斑点X射线梁，而无需进行水冷却。得益于其强大的设计，该消息来源具有3年的保修。IµS包括集成的MONTEL，最先进的2-D光束成型光学元件，以最高强度。这种并排的多层镜设计可从源捕获大的X射线固体角度，并在高度平行和单色梁中有效地重定向。

带有Mikrogap的Vantec-500 2-D检测器^TM值技术满足专用SAXS系统的所有理想要求。首先，不需要气体，水或常规维护，也不需要对强烈的辐射或运动损伤的疑虑导致探测器强大且易于使用。一个大的活跃区域（直径14厘米），以使巨大的角度覆盖范围具有完整的视野。令人难以置信的低背景和高最大计数率，对于奇妙的动态范围和对弱散射样品的敏感性。出色的空间分辨率来解决紧密间隔的散射特征。没有其他探测器可以为这些应用提供这些理想功能的组合。

小角度X射线散射（SAXS）是由嵌入不同电子密度基质中的颗粒引起的现象。如果粒径范围从1 nm到200 nm，则散射角位于0°至5°的范围内，具体取决于所使用的X射线波长。颗粒越小，较宽的是散射角。

在任何介质中的任何排列都显示出电子密度的差异，这在执行SAXS实验时会导致特定模式。除了颗粒的尺寸外，萨克斯州还可以确定它们的形状，分开的距离以及与2-D模式的尺寸分布。颗粒可以溶解大分子，金属中的降水量，生物组织中的矿物颗粒和表面活性剂胶束。

与SAX相比，广角X射线散射（蜡）检查了埃埃斯特罗姆水平的结构，这些结构通常是晶体结构的间距离。通常，蜡用于分析Bragg X射线衍射（XRD）图案，该图案可以帮助确定晶体结构，结晶度，结晶石大小和相组成（相位ID）。可以同时（同时）将蜡数据收集，因为SAXS数据具有第二个检测器的位置更接近样品。

一项纳米学研究利用了集成到纳米级样品室的运动驱动的XY阶段。这允许将样品的选定区域自动通过X射线梁进行扫描。然后可以通过颜色编码的轮廓图显示强度分布（或其他散射参数）。

纳米学允许使用不均匀样品快速和选择性地检测相关的测量点，并允许精确定位小样品。完整纳米摄影图像的每个点本身代表了2-D收集的积分SAXS/蜡强度。