PCB厚度及组成

Bruker提供分析解决方案，以调查PCB层EDS(战略),micro-XRF(XMethod)技术。

在电子激发对较薄的薄膜(高达数百纳米)和轻元素尤其有利的地方，微xrf可以研究较厚的层和层的堆叠。StrataGEM和XMethod都可以同时确定薄膜的质量覆盖/厚度和层组成。