级控制

能量色散x射线荧光(XRF)是矿山和选矿设备中最可靠的品位控制方法。Bruker的XRF分析仪允许同时分析鉴定品级、次品级和废物所需的元素浓度。Bruker的解决方案专注于整个采矿价值链的价值最大化和风险降低，从矿场便携式XRF分析到高吞吐量级控制和杂质工作流程。解决方案包括:

• 高容量的台式S2彪马系列2能够从C到Am的分析，有一个选项，12，和20样品更换。

• 的CTX，一种新的便携式单样品加固工作台XRF与电池备份分析从Mg到U

• 的S1泰坦手持式XRF与可选的安全联锁台式支架最灵活的分析从Mg到U

波长色散XRF (WDXRF)提供最准确和最低限度的检测，特别是在复杂的矿石。WDXRF使用x射线光学将荧光分散到每个元素的单个波长。得到的频谱具有低背景和消除大多数元素重叠。这一技术是关键的品位控制应用，歧视微量元素或元素与许多重叠是重要的。Bruker的WDXRF解决方案

• 的S8狮子提供最快的时间作为多通道WDXRF的结果。同时分析多达16种元素，用于高通量级控制和杂质应用，要求在低检测限的精度。

• 的S8老虎系列2是一种健壮且易于使用的连续WDXRF，能够在一次运行中提供主要元素和跟踪元素。S8 TIGER提供了采矿或库存管理的严格和多样化监督所需的分析灵活性。

• 的S6捷豹是一种紧凑的WDXRF，它足够小和快速，可以部署到矿场实验室，但足够强大，以满足最苛刻的等级歧视的需求。

复杂的矿石往往需要矿物鉴定作为品位控制工作流程的一部分。例如，在铁矿中高岭石可以代替针铁矿，但不能直观识别。在为高品位、低品位或废石划分品位块时，也需要对矿物组合进行量化。快速x射线衍射(XRD)与聚类分析相结合是一种新兴的矿物品位控制和杂质分析工具。当矿物组合是品位控制的关键鉴别器，而散装元素或矿物含量不能说明全部情况时，自动矿物学就会介入，为矿物加工提供额外的关键信息。Bruker的矿物学品位控制方案包括:

• 氨的是Bruker公司用于扫描电子显微镜的自动矿物学解决方案。AMICS自动收集后向散射电子和EDS x射线点，绘制矿物图，计算锁定、释放和模态矿物学。

• 的D2移相器提供XRD分析速度所需的品位控制分析在一个紧凑的桌面包。

• 的DIFFRAC。套件™软件提供了坡度控制和坡度分类的定量分析所需的所有工具。polynap模块提供聚类分析，而TOPAS软件允许进行轮廓拟合和定量Rietveld分析。