WDXRF用于等级控制

波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）在级别控制实验室中提供了卓越的分析精度和精度。像EDXRF一样，所有元素都会被WDXRF中的X射线源激发。与EDXRF不同，所得的次级X射线是在不同方向上衍射的，并顺序测量或通过为每个元素的一系列检测器测量。这种波长衍射允许高光谱分辨率和消除重叠。对于矿物等级控制，这可以提供复杂矿石中检测的下限。WDRFD的一些优势用于等级控制：

• 当需要低相位测量或分析需要低检测极限的情况下，提供高度精确的结果以进行矿物分析或分析微量元素
• 精确测量具有复杂重叠的元素，例如砷，铅和金。
• 满足严格的ISO要求，例如ISO 9516-1：2003，用于测量铁，硅，钙，锰，铝，钛，钛，镁，磷，磷，硫，硫磺，钾，锡，锡，钒，铬，铬，铬铁矿石中的砷，铅和钡。
• 满足高可重复性分析的要求。