坡度控制

能量色散X射线荧光（XRF）是矿山和选矿厂品位控制最可靠的方法。Bruker的XRF分析仪允许同时分析鉴定品位、亚品位和废物所需的元素浓度。Bruker的解决方案专注于在整个采矿价值链上实现价值最大化和降低风险，从矿区便携式XRF分析到高通量品位控制和工作流程。解决方案包括：

• 大容量台式机S2美洲狮系列2能够从C到Am进行分析，可选择一个、12个和20个样品转换器。

• 这个CTX，一种新的便携式单样品加固台面XRF，带有备用电池，用于分析从Mg到U

• 这个S1泰坦手持式XRF，配有可选的安全联锁台式支架，在从Mg到U的分析过程中具有最大的灵活性

波长色散XRF（WDXRF）提供了最精确和最低限度的检测，特别是在复杂矿石中。WDXRF使用X射线光学将荧光分散到每个元素的各个波长。产生的光谱背景较低，消除了大多数元素重叠。该技术对于微量元素或具有许多重叠的元素的鉴别非常重要的品位控制应用至关重要。Bruker的WDXRF解决方案

• 这个S8狮子提供最快的时间来实现多通道WDXRF。同时分析多达16种元素，用于高通量级控制和杂质应用，需要低检测限下的精度。

• 这个S8老虎系列2是一种强大且易于使用的顺序WDXRF，能够在一次运行中提供主要和微量元素。S8 TIGER提供了对采矿或库存管理进行严格多样监督所需的分析灵活性。

• 这个S6捷豹是一种紧凑型WDXRF，其体积小、速度快，足以部署到矿场实验室，但功能强大，足以满足最苛刻的等级识别要求。

复杂矿石通常需要矿物鉴定作为品位控制工作流程的一部分。例如，高岭石可以替代铁矿石中的针铁矿，并且无法进行目视鉴定。在将品位块分配给高品位、低品位或废石时，也可能需要量化矿物组合。快速X射线衍射（XRD）与聚类分析相结合，是一种新兴的矿物品位控制和杂质分析工具。当矿物组合是品位控制中的一个关键鉴别因素，且散装元素或矿物含量不能说明全部情况时，自动化矿物学会介入，为矿物加工提供额外的关键信息。Bruker的溶质品位控制中的矿物学研究包括：

• 友人是Bruker的扫描电子显微镜自动矿物学解决方案。AMICS自动收集后向散射电子和EDS X射线点，以制作矿物图，计算锁定、释放和模式矿物学。

• 这个D2移相器以紧凑型桌面软件包中品位控制分析所需的速度提供XRD分析。

• 这个迪夫拉克套房酒店™软件提供等级控制和等级分类定量分析所需的所有工具。PolySNAP模块提供聚类分析，而TOPAS软件允许轮廓拟合和定量Rietveld分析。