维IconIR
最高性能、大样本纳米IR，具有峰值力特性映射
集锦
维IconIR
Bruker公司的大样品尺寸IconIR系统将纳米红外光谱(IR)和扫描探针显微镜(SPM)结合在一个平台上，为学术研究人员和工业用户提供最先进的光谱、成像和属性映射功能。bob娱乐平台结合数十年的研究和技术创新，IconIR提供了无与伦比的性能，基于和建立行业最好的AFM测量能力的Dimension Icon®。该系统使相关显微镜和化学成像具有更高的分辨率和单层灵敏度，而其独特的大样品结构为最广泛的应用提供了最终的样品灵活性。
大样本
最高性能的纳米红外光谱
跨示例类型和应用程序提供了更高的灵活性和性能。
相关的
化学和纳米尺度属性映射
提供定量纳米化学，纳米力学和纳米电子数据。
亚10nm
光热AFM-IR成像
实现具有单层灵敏度的最高分辨率表征。
特征
独一无二的纳米红外能力和性能
在单个系统中，IconIR为纳米级红外光谱、化学成像分辨率和单层灵敏度提供了最高的性能。
只有维度IconIR提供：
- 高性能的纳米红外光谱，具有精确和可重复的FT-IR相关性，<10 nm的化学分辨率和单层灵敏度
- PeakForce Tapping®纳米机械和纳米电学模式的相关化学成像
- 最高性能的AFM成像和无与伦比的样品灵活性，可容纳大量样品*
- 最广泛的协调应用配件和AFM模式
*标准系统支持高达150 mm的样品，也可提供能够容纳较大样品的版本。
最完全相关显微镜
再加上bruker公司独有的PeakForce tap纳米尺度属性映射和专有的纳米红外光谱技术，IconIR系统的大样品平台特别适合于在电或化学反应环境下的材料和活性纳米尺度系统的相关研究，甚至是具有强机械非均质性的复杂系统。bob综合游戏
IconIR提供：
- 高级定量属性映射技术
- 用于定量纳米化学、纳米机械和纳米电学表征的最完整的相关显微镜解决方案
碳纤维在环氧树脂中的纳米化学(AFM-IR)图像。
碳纤维在环氧树脂中的纳米热成像。
环氧树脂中碳纤维的纳米电学（PF-KPFM）图像。
最高性能的纳米红外光谱
在PS-LDPE聚合物共混物的不同位置收集的高质量共振增强AFM-IR光谱表明了材料的高度敏感性和对纳米材料特性的深入了解。
Bruker是基于光热AFM-IR的纳米IR光谱的创新者，拥有专利，独特的纳米IR模式套件。这些模式使IconIR能够提供与FT-IR光谱相关的高速、高性能光谱。多种模式支持对工业和学术用户的广泛样本进行测量。bob娱乐平台
IconIR提供：
- 最高性能，丰富，详细的光谱与FT-IR相关实现单分子光谱
- 共振增强AFM-IR是纳米IR社区的首选技术，科学出版物数量最多
- 最高性能的分接AFM-IR光谱相当于共振增强AFM-IR
最高分辨率化学成像
Icon业界领先的AFM性能和Bruker获得专利的攻丝AFM-IR成像共同提高了我们纳米IR技术的空间分辨率和样品可及性，将其应用扩展到光热AFM-IR技术目前尚未解决的领域。
IconIR提供：
- <10 nm的化学空间分辨率，用于在广泛的样品类型（包括软样品）上成像
- 薄膜和生物结构成像的单层灵敏度
- 一致、可靠且高质量的可发布数据
- 聚合物薄膜的可靠表面敏感化学测量
PS-b-PMMA嵌段共聚物在tap AFM-IR模式下显示样品形貌的高分辨率化学成像(a);1730时的红外图像(b);1492 cm-1 (c)分别高亮PMMA和PS。图(b)中的黄色箭头表示化学分辨率<10 nm。覆盖图像(d)捕获了组成图。