ML Plus

通过X射线荧光分析（XRF）可以轻松确定多层样品的层厚度和化学组成。直接在波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）上分析分层样品S8老虎。

ML^加正在扩展光谱^加为了分析具有波长X射线荧光分析（WDXRF）的单层和多层样品。它允许直接确定层样品的厚度和组成，直至几个原子层（小于1 nm），并直至µm-甚至mM范围。

ML^加正在使用完整的基本参数方法进行所有计算。MLPLU中厚度和组成的确定是基于光谱的无标准校准^加，即不需要特定的多层标准。但是，任何可用的多层标准都可以用于优化结果。

ML^加设置模型后，每次测量后，都可以用于自动评估。这使得多层分析可用于常规过程控制，例如在分层玻璃或涂层钢的生产中。