光谱仪的解决方案

毫升+

多层和薄膜的XRF分析

用x射线荧光分析(XRF)可以很容易地测定多层样品的层厚和化学成分。层状样品在波长色散x射线荧光光谱仪(WDXRF)上直接分析。S8老虎

毫升+扩展光谱+适用于单层和多层样品的波长色散x射线荧光分析(WDXRF)。它允许直接测定层样品的厚度和组成,下至几个原子层(小于1 nm),上至µm-甚至毫米范围。

毫升+是在所有计算中使用一个完整的基本参数方法。MLplus中厚度和成分的测定是基于光谱的无标准校准+,即不需要特定的多层标准。然而,任何可用的多层标准都可以用来优化结果。

毫升+可以用于自动评估后,每次测量一旦一个模型已经建立。这使得多层分析可以用于常规的过程控制,例如在层状玻璃或涂层钢的生产中。