Micro-XRF光谱仪

M6的地方

高清晰度大面积微xrf扫描仪

移动元素分析

超快的映射

Bruker M6 JETSTREAM -XRF能谱仪,高清晰度大面积宏XRF扫描仪

突出了

2 x60
mm²
SDD大小
双硅漂移探测器选项,最快的采集
80年x60
cm²
能扫描的表面
在一次运行中绘制更大的样本
100 - 500
µm
可调节光斑大小
光斑尺寸可分五步调整,以匹配样品的结构

大面积微x射线荧光技术的最新进展

大样本上的Micro-XRF(也称为macro-XRF或MA-XRF)已成为分析绘画、地质样品、考古文物和工业部件的一种决定性方法。bob娱乐平台M6 JETSTREAM驱动这些分析到最高的速度和准确性。由于其可移动轴距和可调框架,M6 JETSTREAM可以在现场使用,而无需将样品运送到实验室。

  • 测量垂直样品或水平表面
  • 扫描面积可达800 x 600 mm²
  • “在飞行中”分析,以获得最高的绘图速度
  • 可调光斑尺寸,以配合样品的结构
  • XFlash®SDD技术,高达2 × 60 mm²检测面积
  • 可选孔径管理系统(自动对盘及成交系统)以获得对不平整表面的聚焦深度

好处

你能从M6 JETSTREAM期待什么?

6 .李金华等,尖齿恐龙的微x射线荧光光谱研究,201421 (1)
  • 获得关于几乎任何表面的元素分布的空间解析信息
  • 在一次运行中记录大面积的数据
  • 在一个HyperMap数据集中结合高分辨率光学图像和每个像素的全光谱
  • 处理数据并从地图中提取物体光谱、线扫描和化学相
  • 使用标准基本参数(FP)方法量化光谱
  • 通过避免物流和确保贵重物品的安全,降低成本和时间
发现广泛的微x射线荧光样品

规范

技术细节

高达100mm /s级速度 映射可以“实时”进行,每像素驻留时间可降至1毫秒


30mm²或60mm²sdd≤145ev M6 JETSTREAM可以配备不同的Bruker XFlash®探测器,所有指定的Mn Kα≤145 eV

±10°倾斜在垂直测量模式 除了水平和垂直测量之间的90°倾斜外,钻机还可以精细地倾斜,以调整倾斜表面