M6 JETSTREAM
高精度大領域マイクロX射线荧光分析装置
モバイル元素解析装置
超高速マッピング
ハイライト
2x60
平方毫米
SDDサイズ
最速の取得のためのデュアルシリコンドリフト検出器オプション
80x60
厘米²
スキャン可能な表面
1.回の実行で大きなサンプルをマッピングする
100-500
嗯
調整可能なスポットサイズ
スポットサイズは、サンプルの構造に合わせて5.つのステップで調整できます
大面積マイクロ-X射线荧光における最先端の芸術解釈
大面積マイクロX射线荧光法(マクロ-X射线荧光またはMA-XRFとも呼ばれる)は大型の絵画、地質サンプル、考古学的人工物および産業部品の分析のための決定的な方法となっています。M6 JETSTREAMは、これらの解析を最高速度および正確度に駆動します。M6 JETSTREAMは、モバイルホイールベースと調整可能なフレームを使用して、サンプルをラボに輸送する代わりにオンサイトで使用できます。
- 直立サンプルまたは水平面の測定
- 最大800 x 600 mm²のスキャン可能な領域
- 最高のマッピング速度のための「オンザフライ」分析
- サンプルの構造に合わせて調整可能なスポットサイズ
- XFlash®最大2 x 60 mm²の検出器領域を備えたSDD技術
- 不均一な表面に焦点の深さを得るためにオプションの特許取得アパーチャーマネジメントシステム（医疗辅助队）
利点
M6 JETSTREAMから何が期待できますか?
Troodontid恐龙Jianianhualong Tengi的显微XRF研究揭示了新的生物和埋藏信号，Jinhua Li等人，原子光谱2021 42（1）
- ほぼすべての表面の元素分布に関する空間的に解決された情報を取得する
- 1.回の実行で大きな面積のレコード データ取得
- 1.つの 超地图データセットで、ピクセルあたりのフル スペクトルと高解像度の光学画像を組み合わせ可能
- データを処理し、マップからオブジェクトスペクトル、ラインスキャン、化学相を抽出
- ファンダメンタルパラメータ（FP）法を使用したスペクトルの定量分析
- 物流を回避し、貴重な物のセキュリティを確保することで、コストと時間を削減
アプリケーション
仕様
技術的な詳細
| 最大100毫米/秒ステージスピード | マッピングは、ピクセルあたり1.ミリ秒までのドウェル時間で「オンザフライ」で行うことができます | ||
| ≤145电子伏を搭載した30mm²または60mm²のSDD | M6 JETSTREAMは、mnkαで≤145电子伏で指定された異なるブルカーXFlash（右）検出器を装備することができます | ||
| 垂直測定モードで±10°傾斜 | 水平測定と垂直測定の間の90°の傾きに加えて、リグは傾斜面に合わせて微調整するために細かいステップで傾けることができます |
