孔径管理系统(AMS)
样品的形貌定性分析
微x射线荧光的一个关键好处是样品制备的最低要求。然而，必须为测量定义一个解析平面。许多样品不是完全平面的，也不能改变(例如重要的历史博物馆文物)。对于带有地形的样品的定性分析(例如地图或线扫描)，部分表面将在焦平面之外。孔径管理系统(AMS)的目的是增加景深。就像光学成像——但原因非常不同——镜头前的光圈增加了景深。因此，即使对于地势较高的样品，大多数结构仍然在焦点上，即焦平面内。
AMS工作原理示意图。通过只允许最内层的毛细血管传输x射线，光束的发散度减小，视场的深度增加。
来自巴西的翡翠水晶。这些晶体的直径为> 1厘米。焦平面在最顶端晶体的上三分之一。如果没有AMS，晶体的许多部分会脱离焦平面，变得模糊。
在没有改变样品位置的情况下，使用AMS重新绘制了地图。焦距增加了，现在大部分样品都变得锐利了。
