Bruker Nano Analytics礼物:

通过其他眼睛看到世界:通过Micro-XRF优化样品组成的可视化

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用微X射线荧光进行分析成像

扫描Micro-XRF已发展为一种非常有用的分析工具,用于研究近年来多个学科的复杂样本。该技术的强度基于X射线荧光分析的优势(例如多元素灵敏度,低检测限和样品制备的最小要求)与多毛细管晶状体结合在一起,确保高光子通量以及高光透镜以及高空间分辨率。

Micro-XRF的一个特殊特征是,它可以为从10厘米到10毫米的一系列尺度上提供化学信息。在引入之前,不可能在微米分辨率下对这种量表上的化学成分进行全区域分析Micro-XRF

在本网络研讨会中,我们将在最新的元素分布分析方面介绍台式Micro-XRF的可能性。将讨论诸如空间分辨率和物理样本效应之类的主题,以及不同的功能M4龙卷风优化和调整测量条件适合分析任务。元素分布图像的最佳结果取决于多种因素:首先和重要的是指定分析问题,然后选择X射线光束的理想点大小,光子通量的强度和分析时间。除了M4龙卷风的这些技术参数和M4 Tornado Plus,了解样本的性质也是优化过程中的重要因素,并且将成为演示的一部分。

如果您有兴趣了解Micro-XRF,我们邀请您加入我们的网络研讨会。

谁应该参加

  • 物质科学家
  • 地理和生物研究者
  • 失败分析专家
  • M4和M6软件的用户有兴趣优化扫描条件
冻干马铃薯幻灯片的元素分布图
铁陨石样品的元素分布图和相分析
人口稠密的电子板上的元素分布元素

演讲者

罗尔德·塔格尔博士

高级应用科学家Micro-XRF,Bruker Nano Analytics

福克·莱因哈特(Falk Reinhardt)

高级应用科学家Micro-XRF,Bruker Nano Analytics