杂质

由患者安全驱动的监管期望使原料药(活性药物成分)和药品杂质的鉴定、定量和控制成为药物开发的一个基本步骤。在工艺开发、优化和转换过程中，杂质分析是保证原料药和成品质量的必要要求。

ICH Q3A指南将杂质分为3组:有机(起始物料、副产物、中间体、转化bob综合游戏产物、相互作用产物、降解产物、试剂、配体、催化剂)、无机(试剂、配体、催化剂、重金属或残留金属、无机盐等材料，如木炭或助滤剂)、溶剂。ICH Q3A中没有考虑到多态性和对映体，而是另一种需要鉴别、定量和控制的污染物。杂质分析包括鉴定，结构说明并定量测定原料药和制剂中杂质及降解产物。bob综合游戏

通常采用色谱和光谱技术，或单独使用，或与其他技术结合使用，如LC-MS和GC-MS。由于磁共振杂质谱分析和降解研究(如聚山楂酸盐)的定量特性，可以直接进行快速、简单的检测，不需要响应因子的计算，也不需要传统LC方法所需的方法再开发活动，从而节省时间和降低成本。

未知杂质、降解物和力降解产物的结构解析通常通过分离/制备步骤结合NMR和MS数据分析来完成。原料药剂量< 2 g/天，有机杂质阈值为0.1%。任何超过该阈值的杂质都需要鉴别。一旦知道结构，允许阈值可增加到0.5%，减轻了合成和纯化步骤的压力。电子顺电子共振(EPR)光谱学能够揭示其他不可见的杂质，如自由基和过渡金属，这在强制降解(如氧化)研究和货架寿命确定中尤为重要。EPR是唯一一种直接和非侵入性检测、识别和定量顺磁杂质(有机自由基和过渡金属)的技术，其LODs低至十亿分之一。

重金属杂质可以被x射线荧光(TXRF, XRF)识别、定量和监测到十亿分之一的水平。USP和ICH都建立了(T)XRF作为分析重金属(如as、Hg、Co、V、Ni)和典型催化剂元素(如Pt、Pd、Rh和V)的工具，具体参见USP 232、233、735和ICH Q3D。

XRD直接探测晶体结构，可以检测和区分不同的晶型。这允许控制和预测可能发生的多态变化，并对药物质量产生不利影响，降低到~0.1%的重量百分比水平。