准静态Nanoindentation

准静态纳米茚满于用于材料纳米机械表征的标准技术。bob综合游戏通过以高度受控的方式施加和除去载荷来执行准静态纳米狭窄测试，以具有几何清晰明确的探针。

在纳米压痕过程中，传感器施加一个力，探针位移连续测量，产生传统的力与位移曲线。由此产生的力与位移曲线可以作为材料的“机械指纹”，由此可以确定定量的纳米尺度材料性能。力量的Hysitron nanoindenters测量力和位移的纳米压痕探针与独特的三板电容传感器设计。这种换能器设计提供了无与伦比的噪声地板和超低的工作力。

电容式传感器采用严格控制的结构和校准标准，结合精密加工的刚性纳米压痕探头，可对任何材料进行定量、可靠的测量。

对测得的力与位移曲线(特别是卸载段)的分析为用户提供了有关试样力学特性的定量信息。准静态纳米压痕测试通常获得的值为E_R.)及硬度(H)．然而，其他信息如断裂韧性、刚度、分层力和薄膜厚度也可以得到。

所有Hysitron独立的纳米压痕系统都能够进行原位SPM成像。在测试前和/或测试后，使用同一探头扫描样品表面，可以精确地放置测试，并观察变形事件或测试后的样品恢复。bob综合客户端app

来自Bruker的准静态纳米凸缘设计用于最大的多功能性。标准与所有Hysitron独立纳米狭窄系统，并配备了高达10 MN的标准最大力，噪声底板小于30 nn，准静态纳米凸缘覆盖了大量的样品测试可能性。