准静态纳米凹痕

准静态纳米识别已成为用于材料纳米力学表征的标准技术。bob综合游戏准静态纳米引导测试是通过用高度控制的探针以高度控制的方式施加和去除样品的载荷来执行的。

在纳米引导过程中，换能器施加力，并连续测量探针位移以产生传统的力与位移曲线。所得的力与位移曲线是材料的“机械指纹”，可以从中确定定量纳米级材料的性能。布鲁克的Hysitron纳米INDENTERS用独特的三板电容式换能器设计测量纳米凹痕探针的力和位移。这种传感器设计提供了无与伦比的噪声底部和超低工作力量。

用于电容式传感器的紧密控制的结构和校准标准与精确加工的刚性纳米凹痕探针结合使用，可对任何材料产生可量化的可靠测量。

分析测量的力与位移曲线（尤其是卸载段）为用户提供了有关样品机械性能的定量信息。通常从准静态纳米识别测试获得的值会降低模量（e_r）和硬度（H）。然而，还可以获得其他信息，例如断裂韧性，刚度，分层力和膜厚度。

所有息肌独立纳米识别系统均具有原位SPM成像。使用相同的探针在测试之前和/或测试后立即扫描样品表面，可以精确地放置测试以及在测试后观察变形事件或样品恢复。bob综合客户端app

BRUKER的准静态纳米构造旨在最大程度的多功能性。标准所有息肌独立纳米识别系统，并配备了高达10 mn的标准最大力，而噪声底板的标准纳米识别涵盖了大量样品测试可能性。