Contourx-200.
表面纹理计量的柔性台式
Основныемоменты.
Contourx-200.
ContourX-200光学轮廓仪提供了先进的表征，可定制的选项和易用性的最佳的快速，准确，可重复的非接触式3D表面测量的完美融合。该测量能力强，占地面积小的系统提供了不受影响的2D/3D高分辨率测量能力，使用更大的FOV 5mp数码相机和新的机动XY平台。拥有无与伦比的z轴分辨率和精度，ContourX-200提供了Bruker专有白光干涉测量(WLI)技术的所有业界公认的优势，不受传统共聚焦显微镜和竞争对手的标准光学轮廓仪的限制。
自动化
功能
启用例程以更快地进行测量和分析。
机动化的
XY阶段
提供低噪声，高速操作，用于定量计量。
耐振
紧凑的设计
提供测量稳定性和可测量的重复性。
Особенности
无与伦比的，最牌照的计量学
基于40多年的专利WLI创新，ContourX-200光学轮廓仪展示了定量测量所需的低噪声、高速、精度和精度结果。通过使用多个目标和集成的特征识别，可以在不同的视角和亚纳米垂直分辨率上跟踪特征，为各种行业的质量控制和过程监控应用提供尺度无关的结果。ContourX-200在所有地表情况下从0.05%到100%反射率都很强大。新的硬件功能包括一个创新的舞台设计，用于更大的拼接能力和一个500万像素的摄像头，具有1200x1000测量阵列，以降低噪音，更大的视场，和更高的横向分辨率。
WLI为所有目标提供恒定且最终的垂直分辨率。
最广泛的应用分析功能
Contourx-200电动舞台。
使用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，Contourx-200在实验室和工厂地板上提供了数千分的定制分析，用于生产力。Bruker的新型通用扫描干涉测量法（USI）测量模式提供全自动，自感的表面纹理，优化的信号处理，同时提供分析的表面地形的最准确和现实的计算。通过该系统的新摄像机提供的较大的FOV和新的电动XY阶段提供的灵活性，可以为广泛的样品和零件提供更多的灵活性和更高的吞吐量。硬件和软件组合以提供对顶级光学性能的简化访问，完全拓宽了可比的计量功能。
