Contourx-200
柔性台式表面纹理计量学
Punti Salienti
Contourx-200
Contourx-200光学探测仪提供了高级表征，可自定义选项以及易用性的完美融合，以便一流的快速，准确且可重复的非接触式3D表面计量学。具有GAGE能力的小足迹系统使用较大的FOV 5 MP数码相机和新的电动XY舞台提供了不妥协的2D/3D高分辨率测量功能。Contourx-200具有无与伦比的Z轴分辨率和准确性，提供了Bruker专有的白光干涉测量法（WLI）技术的所有行业公认的优势，而没有传统的共聚焦显微镜和竞争标准光学辅助器的局限性。
自动化
功能
启用程序以进行更快的测量和分析。
机动
XY舞台
为定量计量学提供低噪声，高速操作。
耐振动
紧凑的设计
提供测量稳定性和可重复性。
卡特里斯蒂奇
不妥协的一流的计量学
Contourx-200光学仪表符于四十年的专有WLI创新，表现出定量计量学所需的低噪声，高速，准确性和精度结果。通过使用多个目标和集成的功能识别，可以在各个视野和子纳米垂直分辨率上跟踪功能，从而为质量控制和过程监视应用程序提供了非常多样化的行业的质量控制和过程监测应用程序。在所有表面情况下，Contourx-200都有鲁棒性，从0.05％到100％的反射率。新的硬件功能包括用于较大缝线功能的创新舞台设计和具有1200x1000测量阵列的5MP摄像头，可用于较低的噪声，较大的视野和较高的横向分辨率。
WLI为所有目标提供恒定而最终的垂直分辨率。
最广泛的应用分析功能
CONTOURX-200机动阶段。
Contourx-200利用强大的VisionXpress和Vision64用户界面，为实验室和工厂地板上的生产率提供了数千种定制分析。布鲁克的新的通用扫描干涉法（USI）测量模式提供了完全自动化的，自感应的表面纹理，优化的信号处理，同时对要分析的表面地形进行了最准确和最现实的计算。新电动XY阶段提供的系统新相机和灵活性提供的较大的FOV为广泛的样品和零件提供了更大的灵活性和更高的吞吐量。硬件和软件共同提供了精简的访问最佳的光学性能，完全超出了可比的计量功能。
