CONTOURX-100
简化且负担得起的粗糙度计量台
Основные моменты
CONTOURX-100
Contourx-100光学探测仪为以一流的价格点设定了一种新的基准，用于准确且可重复的非接触表面计量。小占地面积系统在流线型包装中提供了毫不妥协的2D/3D高分辨率测量功能，该软件包结合了数十年的专有Bruker白光干涉法（WLI）创新。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头和更新的阶段，以实现更大的缝线功能，以及新的测量模式，USI，为精密机械表面，厚实的膜和摩擦学应用，更有便利和灵活性。您将找不到比Contourx-100更高价值的台式系统。
Industry-best
Z resolution
提供恒定的精确测量，独立于放大倍数。
无与伦比
计量价值
提供精简的设计，没有受损的测量功能。
方便使用的
软件接口
提供直观的访问，可访问广泛的预编程过滤器和分析库。
Особенности
无与伦比的计量学
WLI offers constant and ultimate vertical resolution for all objectives.
Contourx-100 Profiler是在非接触式表面计量学，表征和成像方面的专有光学创新和行业领导的四十年的高潮。该系统利用3D WLI和2D成像技术在一次采集中进行多次分析。在所有表面情况下，Contourx-100均在0.05％至100％的反射率中均可稳健。
无与伦比的价值和分析
Contourx-100手动阶段。
With thousands of customized analyses and Bruker’s simple and powerful VisionXpress™ and Vision64® user interfaces, the ContourX-100 benchtop is optimized for productivity in both labs and on factory floors. The hardware and software combine to provide streamlined access to top high-throughput optical performance, completely outclassing comparable metrology technologies.
