Contourx-100.
流线型和负担得起的台式粗糙度测量
Punti salienti
Contourx-100.
Contourx-100光学轮廓仪在一流的价格点中设置了用于准确和可重复的非接触面计量的新基准。小型脚印系统提供简化包装中的无与伦比的2D / 3D高分辨率测量功能，包括数十年的专有Bruker白光干涉测量（WLI）创新。下一代增强功能包括新的5 MP摄像头和更新阶段，用于更大的拼接能力，以及一种新的测量模式，USI，适用于精密加工表面，厚膜和摩擦学应用的更大方便和灵活性。您将无法找到具有比Contourx-100更好的Benchtop系统。
业内
Z的决议
提供恒定的，精确的测量，独立于放大。
无与伦比的
计量值
提供简化的设计，不会受到损害的测量功能。
用户友好的
软件界面
提供对预编程过滤器和分析的广泛库的直观访问。
Caratteristiche
无与伦比的计量
WLI为所有目标提供恒定和最终的垂直分辨率。
Contourx-100分析器是在非接触面计量，表征和成像中的四十年的专有光学创新和行业领导的高潮。该系统利用3D WLI和2D成像技术在单个采集中进行多次分析。Contourx-100在所有表面情况下具有0.05％至100％的反射率。
不匹配的值和分析
contourx - 100手工阶段。
通过数千个定制分析和Bruker简单而强大的VisionXpress™和Vision64®用户界面，ContourX-100台式电脑在实验室和工厂车间的生产率都得到了优化。硬件和软件相结合，提供了最佳的高吞吐量光学性能，完全超过了可比的计量技术。
