绕射

X射线反射率（XRR）提供了有关垂直样品密度剖面、层厚度和界面粗糙度的详细信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）测量样品的晶体结构。掠入射小角散射（GISAXS）用于评估纳米颗粒和孔隙率。残余应力分析探测大块样品和多晶涂层的应变状态。

与传统的单曲线扫描一样，LEPTOS能够分析高分辨率HRXRD和XRR倒易空间图、GISAXS和XRD²应力框架、HRXRD、XRR和残余应力应用的面积图。使用0-D、1-D或2-D探测器收集数据并不重要。
该GUI可以定制，以适应科学研究人员和工业操作人员的要求。bob娱乐平台

• 多重XRR、HRXRD、GISAXS和RS测量的联合评估
• 用于直接和互易空间数据估计、模拟和拟合的先进X射线散射理论和数值方法
• 自然集成处理1维和2维数据集测量点，线和二维探测器
• 通用示例模型编辑器，用于参数化任何类型的薄膜和块体示例
• 全面和可扩展的材料数据库涵盖所有230晶体学空间组
• 区域映射工具显示和评估测量执行的大样本区域
• 一维和二维数据残余应力分析的高级sin²ψ方法，以及评价多晶涂层应力梯度的多重(hkl)方法

LEPTOS R设计用于分析薄层结构的x射线反射率(XRR)数据和非镜面漫射散射(DS)。该模块完全集成在LEPTOS套件中，该套件集成了HRXRD、GISAXS和XRR数据的同步分析。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个包的所有通用功能。

LEPTOS R在几个国际标准中得到了高度评价，包括VAMAS A10项目。LEPTOS R的结构符合最新开发的XRR数据格式国际rfCIF标准。

LEPTOS S是一个创新的，强大的和全面的模块，用于分析由0D, 1D或2D探测器测量的残余应力，使用经典的sin2ψ和扩展的XRD2方法。该模块完全集成在LEPTOS套件中，并继承了整个包的所有通用功能。