DIFFRAC.LEPTOS

x射线反射率(XRR)提供了详细的information on the vertical sample density profile, layer thicknesses, and interface roughness. High-resolution X-ray diffraction (HRXRD) measures the crystallographic structure of the sample. Grazing-incidence Small Angle Scattering (GISAXS) is used for evaluation of nanoparticles and porosity. Residual Stress analysis probes the strain status of bulk samples and polycrystalline coatings.

Along with conventional single-curve scans, LEPTOS enables analysis of high-resolution HRXRD and XRR reciprocal space maps, GISAXS and XRD² Stress frames, area mapping for HRXRD, XRR, and Residual Stress applications. It doesn’t matter whether data have been collected with 0-D, 1-D or 2-D detectors.
可以定制GUI以适应科学研究人员和工业运营商的要求。bob娱乐平台

• Joint evaluation of multiple XRR, HRXRD, GISAXS and RS measurements
• Advanced X-ray scattering theories and numerical methods for estimation, simulation and fitting of data in direct and reciprocal space
• 按点，线和二维检测器测量的1和二维数据集的自然集成处理
• Universal sample model editor for parameterizing any type of thin film and bulk samples
• 全面且可扩展的材料数据库涵盖了所有230个晶体学空间组
• 用于显示和评估在大型样品区域执行的测量的区域映射工具
• 高级SIN²ψ方法用于1-D和2-D数据的残余应力分析，以及评估多晶涂层中应力梯度的多重（HKL）方法

Leptos R的设计用于分析X射线反射率（XRR）数据和薄层结构的特定分散散射（DS）。该模块完全集成在Leptos Suite中，该套件同时分析了HRXRD，GISAXS和XRR数据。作为LEPTOS套件的一部分，R模块继承了整个软件包中常见的所有功能。

Leptos R在包括VAMAS项目A10在内的几个国际基准中得到了高度评​​价。Leptos R的结构符合新开发的XRR数据数据格式的国际RFCIF标准。

Leptos S是通过使用经典SIN2ψ和扩展的XRD2方法来分析通过0D，1D或2D检测器测量的残余应力的创新，强大且全面的模块。该模块已完全集成在Leptos Suite中，并继承了整个软件包中常见的所有功能。