微x射线荧光光谱(Micro-XRF)是一种常用的无损分析方法,可以在不进行任何样品制备的情况下测量不同样品的薄膜厚度。此外,还可以同时确定该层的组成。这类应用的例子有:PCB板上的连接器引脚或焊点,引线框架和芯片载体,太阳能电池上的涂层,甚至用于不同材料的防腐涂层。bob综合游戏该方法的非破坏性操作和x射线穿透样品并获取表面下材料信息的能力,使该方法对单层和多层的厚度和成分分析具有吸引力。
本次网络研讨会将讨论XMethod软件模块中层模型的开发以及使用XTrace,附着在扫描电子显微镜上的微xrf源。重点将展示几个应用实例,如不同基材上的金属涂层,印刷电路板(PCB)铜上的Au/Ni涂层。太阳能电池的复合层也将被讨论。将对校准标准的结果进行比较,以证明精度和重现性。
本次网络研讨会将以15分钟的问答环节结束,届时我们的专家将回答您的问题。
马克斯Buegler博士
应用科学家Micro-XRF,布鲁克纳米分析
Stephan Boehm
布鲁克纳米分析公司micro-XRF / SEM和WDS产品经理