化合物半导体的X射线计量

RADS软件

软件,可快速准确的XRD测量分析

Bruker Rads是业界最受信任的软件,用于模拟和分析来自单晶基板上的外延薄膜结构的高分辨率X射线衍射(HRXRD)数据。它是研发,生产和学术界的首选软件,用于详细分析简单和复杂的结构。

RADS软件为其用户提供了多种工具,可实现准确和快速的XRD测量分析。通过自动计算过程参数,并立即处理对生产的反馈,RADS软件采用地下设计,以提高工艺和产量结果。自1991年以来,这种独家功能的组合使RAD成为领先的过程监控和分析软件。

新特性

  • 主题GUI,允许用户选择程序的外观(贝格,乔丹谷和两者的混合动力车)
  • 添加了对键合SOI基板的支持
  • 增强了缺陷散射模型,包括马赛克模型,以及由于离子植入引起的随机原子位移的影响
  • 允许使用来自不同反射的两个测量数据集来使用公共结构模型同时安装
  • 包括显示各种参数的深度配置文件的能力,例如构图
  • 可以在HTML,PDF,RTF和各种其他格式中创建打印的报告
  • 改进了批处理能力
  • 支持多核处理器,以及分配给任何特定核心/ CPU的能力。

规格

  • 采用X射线衍射(Takagi-Taupin)的动态理论,以准确模拟
  • 使用现代处理器上提供的SSE2 / 3说明进行快速模拟。模拟和拟合将比同一计算机上的V3.x更快地运行x3-4。
  • 包括专利数据拟合技术,可用于多层结构的可靠自动分析
  • 使用电子表格样式的图层列表轻松创建模型结构(包括超级图示)
  • 允许使用层参数方程说明任意组成和应变谱
  • 图层参数链接以简化复杂多层结构的分析
  • 广泛的内置和材料数据库,也可以是用户定制的bob综合游戏
  • 非001立方体材料上的模型外延,例如(110)层和(111)取向bob综合游戏基材;还支持面向巴塞尔平面(C平面)的六角形材料bob综合游戏
  • 模拟现实的乐器条件
  • 精致的科学图形和输出能力
  • 支持各种数据文件格式(Inc.Jordan Valley,Bede,Bruker,analytical)
  • 支持将拟合结果写入关系数据库
  • 多个实验数据文件的批量分析
  • 提供集成的宏语言和强大的自动化功能
  • 支持Windows XP,Vista和7