X射线缺陷检查
布鲁克缺陷检测系统使用x射线衍射成像(XRDI)来检测晶体缺陷，如单晶衬底上的裂纹、滑移、位错和微管。我们的XRDI检测技术无需使用蚀刻酸。这些系统被广泛应用于检测硅晶片中导致晶片断裂的裂纹，并提高其他高价值基片(如CdTe和SiC)的成品率和质量。
支持
我们能帮你什么吗？
布鲁克与我们的客户合作解决实际应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系在工具出售后很长一段时间内通过培训和延伸服务持续下去。bob电竞官方网站
我们训练有素的支持工程师，应用科学家和主题专家团队完全致力于最大化您的生产力与系统服务和升级，以及应用支持和培训。bob电竞官方网站