Micro-XRF光谱仪

M1米斯特拉尔

小型台式微型XRF光谱仪

散装材料及涂料

有成本效益的行动

M1 MISTRAL微型X射线荧光光谱仪

母亲是żniejsze informacje

100µm
最小光斑大小
甚至可以解决电路板上的精细结构细节
2 nm-60µm
多元素层分析的厚度范围
根据ASTM B568和ISO 3497,具有挑战性的层厚度和成分分析;包括带有重复元素的层;可编程多点分析
8 ppm
聚合物中铜、锌或锌中铅的检测限值
RoHS筛选、焊料、塑料、金属合金中微量元素分析;自动校正材料厚度,精确定位PCB元件上的测量点

一种小型多用途台式微型xrf光谱仪

关键因素

  • 柔性仪器
  • 易于操作
  • 用户友好的触摸屏界面
  • 访问原始数据

M1 MISTRAL是一个紧凑的台式能量色散微xrf分析仪的多用途。M1 MISTRAL易于操作,设计用于工业环境中快速和经济有效的操作,提供关于材料(如贵金属合金)以及多层结构的元素成分和层厚的准确信息。bob娱乐平台bob综合游戏

散装和涂层根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497进行分析。利用Rh靶激发分析化学沉积磷酸镍(NiP)镀层,可以达到较高的准确度。

所有珠宝合金、铂族金属或银的确切成分可以在几分之一分钟内测定出来。结果可以以重量%或克拉输出。

分析可以是不标准的,也可以是基于标准的,以达到更高的精度。各种各样的校准可用于每个应用程序。

从定位样品到在报告中打印结果,整个工作流程集成在软件中。同时,通过对原始数据的开放访问,保证了系统的完全透明。

科兹奇

M1 MISTRAL的好处

可以对各种各样的元素进行无损测量。无需样品制备。即使是复杂的分析任务也可以通过可编程XYZ阶段实现自动化,只需单击鼠标即可启动。超快速检测系统提供快速结果。

M1 MISTRAL配备了大面积硅漂移检测器(SDD),具有优越的计数率性能和能量分辨率,可将检测限制降低到ppm水平。高性能的探测器,数字脉冲处理和优化的几何条件导致高效的x射线检测,因此快速和准确的分析结果。

M1 MISTRAL的易用和免维护设计以及功能强大的分析软件套件允许即使只接受过短暂培训的人员也可以进行操作。不需要耗材或气体。坚固的结构确保了最高的稳定性和免维护操作。

Specyfikacje

技术细节

  • 高性能微聚焦管,W或Rh靶
最大样本量和重量
  • 48 x49x20厘米³
  • 最高可达1.8公斤

探测器

  • Peltier冷却,30 mm²高性能硅漂移探测器,<150 eV能量分辨率在Mn Ka
马克西。阶段旅游范围
  • 最高可达200毫米x 175毫米x 80毫米(用于电动XYZ舞台与自动对焦和EasyLoad功能)

元素范围广

  • 默认:从Ti (Z=22)与W目标
  • 可选:从Al (Z=13)与Rh靶
仪器尺寸(宽x深x高)
  • 550毫米x 680毫米x 430毫米
x光光斑大小
  • 准直器改变0.1毫米到1.5毫米

Oprogramowanie

XSpect Pro分析软件套件

  • 仪表控制、数据采集和管理
  • 用户可选择触摸屏界面
  • 舞台控制和程序设计
  • 金属多层膜层厚度及成分分析
  • 定量成分分析,无标准和基于标准的实证模型
  • 带有自动峰识别的光谱查看器
  • 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
  • 报告生成器
  • 结果存档