Micro-XRF光谱仪

M1 Mistral

Compact Benchtop micro-XRF Spectrometer

散装材料和涂料

成本效益的操作

하이라이트

100 µm
最小点大小
Can even resolve fine structure details on circuit boards
2 nm-60 µm
厚度范围用于分析多个多元素层
根据ASTM B568和ISO 3497对层厚度和组成的挑战分析;包括具有重复元素的层;可编程多点分析
8 ppm
Limits of detection for Cu, Zn in polymers or Pb in Zn
RoHS screening, analysis of trace elements in solders, plastics, metal alloys; automatic correction on the material thickness, exact measurement spot positioning on PCB components

紧凑的多功能台式微XRF光谱仪

关键因素

  • Flexible instrument
  • Easy to operate
  • 用户友好的触摸屏接口
  • Access to raw data

M1 Mistral是一种紧凑型台式能量分散微型XRF分析仪,用于多用途。M1 Mistral易于操作和设计用于工业环境中的快速和成本效益的操作,提供了有关材料的元素成分和层厚度的准确信息,例如贵金属合金以及多层结构。bob娱乐平台bob综合游戏

根据ASTM标准B568和欧洲标准ISO 3497分析散装和涂层。在分析通过RH目标激发电气沉积的镍磷酸盐(NIP)涂层时,可以实现高精度。

所有珠宝合金,铂金属金属或银的确切成分可以在一分钟内确定。结果可以以重量%或克拉的速度输出。

可以对分析进行无标准或基于标准的分析,以达到更高水平的准确性。每个应用程序都可以使用多种校准。

从定位样本到在报告中打印结果 - 整个工作流都集成在软件中。同时,可以通过对原始数据进行开放访问权限确保全面的透射率。

혜택

M1 Mistral的好处

各种各样的元素可以测量非destructively. No sample preparation is required. Even complex analytical tasks can be automated with the programmable XYZ stage and started with a single mouse click. Ultra-fast detection systems provide quick results.

M1 Mistral带有大面积的硅漂移检测器(SDD),其计数速率性能和能量分辨率较高,可将检测限制降低到PPM水平。高性能检测器,数字脉冲处理和优化的几何条件会导致高效的X射线检测,从而快速,准确的分析结果。

The easy-to-use and maintenance-free design of the M1 MISTRAL and the powerful analytical software suite permit operation even by personnel who have received only brief training. No consumables or gases are required. Sturdy construction ensures highest stability and maintenance-free operation.

사양

Technical details

励磁

  • 具有W或RH目标的高性能微聚焦管
Max. sample size & weight
  • 48x49x20cm³
  • up to 1.8 kg

Detector

  • Peltier冷却,30mm²高性能硅漂移探测器,Mn Ka时<150 EV的能量分辨率
超长舞台旅行范围
  • 高达200毫米x 175毫米x 80毫米(用于自动焦点和Easyload功能的电动XYZ阶段)

广泛的元素

  • 默认值:从ti(z = 22)带有W目标
  • 可选:来自Al(Z = 13)的RH目标
Instrument dimensions (W x D x H)
  • 550毫米x 680毫米x 430毫米
X射线点大小
  • 准直晶剂更换0.1毫米至1.5毫米

소프트웨어

Xspect Pro Analytical软件套件

  • Instrument control, data acquisition and management
  • 用户可选的触摸屏接口
  • 舞台控制和编程
  • 分析有关层厚度和组成的金属多层
  • 定量组成分析,无标准和基于标准的经验模型
  • 具有自动峰标识的频谱查看器
  • 统计过程控制(SPC)趋势线和数据
  • 报告生成器
  • 结果存档