JA
お問合せ
製品とソリューション
アプリケーション
サービス
ニュースとイベント
キャリア
企業情報
What are you looking for?
少なくとも2文字を使用してください (現在1文字を使用しています) 。
语言
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Polski
Português
Русский
中文
日本語
한국어
電子顕微鏡アナライザー
QUANTAX EBSD
比類のないパフォーマンスを実現する軸上TKD
最高の空間分解能
低プローブ電流
ハイライト
1.5
nm
効果的な空間分解能
ユニークな軸上TKDが、サンプルと検出器の最適なジオメトリを提供します
2
nA
必要な最大プローブ電流
速度とデータ品質を保ったままで、軸上TKDによる低プローブ電流測定が可能です
125,000
pps
FSE, BSE, STEM画像の超高速取得
ARGUSイメージングシステムにより、数秒でハイコントラスト&低ノイズイメージングが可能です
比類のない空間分解能によるナノ材料のオリエンテーションマッピング
人気のOPTIMUS TKD検出器ヘッドを備えたQUANTAX EBSDシステムは、SEMによるナノ材料分析に最良のソリューションです。
最小1.5 nmの空間解像度
速度やデータ品質を損なうことなく、低いプローブ電流で動作
浸漬レンズ技術を用いた超高分解能で動作する唯一のTKDソリューション
全自動・組み込みの
ARGUS
イメージングシステム
お問い合わせ
OPTIMUS 2
利点
軸上TKD によるメリット
最高の空間分解能を実現
SEM による方位と位相マッピング
データ品質/整合性を損なうことなく高速マッピングを実現
高速かつ全自動の信号最適化による、優れたコントラストと分解能を持つSTEM像を取得可能
低いプローブ電流による、ビームに敏感な材料も分析可能
軸上TKDについてもっと読む
アプリケーション
あなたの分析課題は何ですか?
鉱物サンプルの相同定
微小構造の分析や相同定などの地球科学研究において、EBSDは非常に強力なツールです。
詳細はこちら
Microstructure characterisation of a microprocessor wire bonding with EBSD
Ball bonding is a type of wire bonding, commonly used for electrical interconnections in semiconductor devices.
詳細はこちら
ニッケル系超合金の微細構造評価
ニッケル系超合金は、優れた機械的強度、熱クリープ変形・疲労・腐食・酸化に対する耐性で知られています。
詳細はこちら
ウェビナー
ウェビナー
May 05, 2020
Latest developments in advanced 3D EBSD/EDS data processing with ESPRIT QUBE
3D-EBSD/EDS is a destructive tomographic method consisting of repeated sectioning and subsequent EBSD and EDS analysis.
November 10, 2020
Advanced Sample Preparation by Broad Ion Beam Milling for EBSD Analyses
This webinar provides sample preparation solutions for challenging materials using Fischione Instruments’ Model 1061 SEM Mill, a broad ion beam (BIB) mill, and corresponding high quality EBSD measurements acquired using Bruker eFlash FS detector.
September 3, 2020
Nanostructural characterization of semiconductors with SEM
This webinar will discuss the quantitative characterization of nanostructured semiconducting materials using SEM with EDS and TKD techinques.
ニュース&イベント
詳細
関連資料と出版物
カタログ・フライヤー
QUANTAX EBSD カタログ
Rapid EBSD カタログ
QUANTAX EBSDフライヤー
OPTIMUS 2 カタログ
ARGUS FSE/BSEイメージングシステム フライヤー
ESPRIT QUBE フライヤー
ESPRIT DynamicS カタログ
電子顕微鏡アナライザー 総合カタログ
ESPRIT Win10 アップグレード フライヤー
アプリケーションノート
EBSD 05 - 二相ステンレス鋼のEBSDとナノインデンテーションの複合評価
EBSD 04 - ストロンチウムで改質されたAl-Si合金における複雑な相の同定
EBSD 03 - 鉱物学的サンプルの相同定と分布
EBSD 02 - in situの圧縮試験と引張試験によって変形した材料の結晶方位解析
EBSD 01 - 多相材料の高速同時 EBSD および EDS 分析
スペックシート
eFlash HD スペック シート
eFlash FS スペック シート
出版物
Nature Materials : Metal–polymer hybrid nanomaterials for plasmonic ultrafast hydrogen detection (2019)
Acta Materialia : Mechanism of the α-Zr to hexagonal-ZrO transformation and its impact on the corrosion performance of nuclear Zr alloys (2019)
Materials Science : On the depth resolution of transmission Kikuchi diffraction (TKD) analysis (2019)
Materials Science : Forescattered electron imaging of nanoparticles in a scanning electron microscopy (2019)
Materials Characterization : Space rocks and optimising scanning electron channelling contrast (2018)
Materials Characterization : Elevated temperature transmission Kikuchi diffraction in the SEM (2018)
Nature Communications : Grain boundary mediated hydriding phase transformations in individual polycrystalline metal nanoparticles (2017)
Ultramicroscopy : A systematic comparison of on-axis and off-axis transmission Kikuchi diffraction (2017)
Journal of Microscopy : Evidence of multimicrometric coherent γ′ precipitates in a hot‐forged γ–γ′ nickel‐based superalloy (2016)
関連商品
eFlash HD
約2メガピクセル(1600 x 1200ピクセル)のネイティブCCD解像度と 歪みを最小限に抑えるための最先端のカメラ光学系を備えた 新しいeFlash HD検出器は、細部を表示する高精細な菊池パターンを提供します。
詳細はこちら
eFlash FS
eFlash FS は、データ品質を損なうことなく高速な EBSD 測定を可能にする最大感度を実現します。変形した素材や軽量な素材など測定が困難なアプリケーションでも測定が可能です。
詳細はこちら
OPTIMUS 2
Our new, augmented TKD solution builds on the unmatched performance of existing on-axis TKD through the addition of multiple new hardware options, accessories, and software features.
詳細はこちら
ESPRIT Family
ESPRIT2は、1つのユーザーインターフェイスの下で 4つの分析手法を実行します。(SEMおよび (S)TEM用EDS, WDS, SEM用マイクロXRF, EBSD)
詳細はこちら
ESPRIT QUBE
ESPRIT QUBE は、EBSDやEDSで取得したデータの 3Dによる視覚化および後処理のための最先端の分析ソフトウェアです。
詳細はこちら
お問合せ
お問い合わせ先
製品窓口
製品とソリューションについての詳細
お問い合わせはこちら
カスタマーサポート
お持ちのブルカー製品についてのサポート
カスタマーサポートへのお問い合わせ
ニュースレター
ブルカーのX線分析と元素分析の最新情報
こちらから購読