全反射X射线荧光

TXRF是如何工作的?

TXRF解释

什么是TXRF?

TXRF的工作原理基于全反射X射线荧光分析方法。风冷X射线管产生X射线束,通过多层单色仪将其缩小到较窄的能量范围。细光束以非常小的角度撞击抛光样品载体,并被完全反射。

TXRF和传统XRF有什么区别?

像传统的能量分散X射线荧光技术方面,X射线束的激发使样品中的元素以其特征能量发光,从而实现元素识别。元素能量信号的大小有助于确定其在样品中的浓度。然而,TXRF用全反射光束照射样品的能力降低了吸收率样品基质中的离子和散射。由此产生的好处包括显著提高荧光产率,大大降低背景噪声,因此对微量元素具有更高的灵敏度。与传统XRF相比,TXRF的另一个好处是它能够在微升或微克范围。

TXRF光谱仪利用多层单色仪产生细光束,以非常小的角度撞击样品,以提高荧光产率并降低噪声,从而实现痕量元素分析。

样品制备和类型

哪些样品可以用TXRF进行分析,它们是如何制备的?

TXRF分析抛光样品载体上制备的液体、粉末和悬浮液,将其作为薄膜进行定量分析或作为微碎片进行定性分析。对于液体,用移液管将几微升带有内标物的均质样品移到样品载体上,通过加热或真空干燥,并装入spectrometer。植物组织和土壤样品等固体首先干燥、研磨、悬浮在洗涤剂溶液中、稀释并在移液到载体上之前均质。粉末、沉淀物或其他固体可在弱酸溶液中消化,或在移液到载体上之前转化为悬浮液。或者,干燥土壤的微粒样品可以用润滑脂涂抹在载体上进行半定量分析。

用于抛光样品载体的TXRF样品制备快速、简单,并且能够分析非常少量的样品。

快速且经济高效

TXRF的优点是什么?

微量和小样本分析

与…相比常规X射线荧光, TXRF有能力测量ppb范围内的微量元素水平。在绝对质量方面,检测限在picg范围内,甚至优于任何商业ICP系统。

快速分析

与传统上用于痕量和小样本元素分析的原子光谱法相比,TXRF样品制备快速、简单,不需要实验室排气罩即可用于危险化学品。它可以同时测量包括卤化物在内的所有元素,并且具有更低的分析操作和维护成本sts。

需要多久校准一次?

TXRF系统经过工厂校准,可随时使用。因此,对未知样品的日常定量只需添加内部标准元素,如镓。

TXRF是否需要真空泵或冷却液?

不需要!TXRF光谱仪不需要真空泵。由于与样品载体的距离较短,荧光产生率非常高,空气吸收率非常低。这使得TXRF光谱仪非常紧凑,可以进行现场分析。此外,TXRF光谱仪不需要冷却液、气体或任何其他介质。它是一种即插即用系统,无需任何介质或复杂的实验室基础设施。

可以使用S2 PICOFOX TXRF光谱仪进行动态TXRF测量,该光谱仪不需要实验室设备进行样品制备。

规范

TXRF有哪些国际标准?

  • ISO TS 18507:全反射x射线荧光光谱技术在生物和环境分析中的应用。
  • ISO 20289:水的全反射X射线荧光分析。