TXRF的工作原理基于全反射X射线荧光分析方法。空气冷却X射线管产生X射线束,通过多层单色仪将其缩小到较窄的能量范围。细光束以非常小的角度撞击抛光样品载体,并被完全反射。
TXRF和传统XRF有什么区别?
像传统的能量分散X射线荧光在这种技术中,X射线束的激发使样品中的元素以其特征能量发光,从而实现元素识别。元素能量信号的大小有助于确定它们在样品中的浓度。然而,TXRF用全反射光束照射样品的能力减少了样品基质中的吸收和散射。由此产生的好处包括显著提高荧光产率,大大降低背景噪声,因此对仅以微量存在的元素具有更高的灵敏度。与传统XRF相比,TXRF的另一个优点是它能够在低微升或微克范围内测量非常少量的样品。
TXRF将抛光样品载体上制备的液体、粉末和悬浮液作为薄膜进行定量分析,或作为微碎片进行定性分析。对于液体,用移液管将几微升带有内标物的均质样品移到样品载体上,通过加热或真空干燥,并装入光谱仪。植物组织和土壤样品等固体首先干燥、研磨、悬浮在洗涤剂溶液中、稀释并均质,然后移液到载体上。粉末、沉积物或其他固体可在弱酸溶液中消化,或在移液到载体上之前转化为悬浮液。或者,干燥样品的微粒可以用润滑脂涂抹在载体上进行半定量分析。
微量和小样本分析
与…相比常规X射线荧光,TXRF能够测量ppb范围内的微量元素水平。就绝对质量而言,检测限在皮克范围内,甚至比任何商业ICP系统都好。
快速分析
与传统上用于痕量和小样本元素分析的原子光谱法相比,TXRF样品制备快速、简单,并且不需要实验室排气罩来使用危险化学品。它可以同时测量包括卤化物在内的所有元素,并且具有更低的分析操作和维护成本。
需要多久校准一次?
TXRF系统经过工厂校准,可随时使用。因此,对未知样品的日常定量只需要添加内部标准元素,如镓。
TXRF是否需要真空泵或冷却液?
不TXRF光谱仪不需要真空泵。由于与样品载体的距离较短,荧光产率很高,而空气的吸收率很低。这使得TXRF光谱仪非常紧凑,可以进行现场分析。此外,TXRF光谱仪不需要冷却液、气体或任何其他介质。它是一个即插即用系统,不需要任何介质或复杂的实验室基础设施。