高分辨率原位SPM成像
优异的纳米力学测试结果
Bruker是原位扫描探针显微镜(SPM)成像的先驱，它直接将纳米力学和纳米摩擦学表征与高分辨率SPM成像相结合。原位SPM技术使用与进行测试时相同的探头来成像样品表面，使得无需离开测试位置就能在现场快速采集图像。Bruker的原位SPM成像技术本质上提高了测试的准确性、重复性和速度，因为非原位成像方法(如并行操作AFM)需要额外的时间将样品移动到另一个成像位置，并且在期望的测试地点进行可靠定位带来了重大挑战。
10 μm扫描尺寸，1024 × 1024分辨率，陨石样品的地形图像。
垂直轴和水平轴扫描尺寸和分辨率可独立改变:30 μm × 30 μm扫描尺寸，256 × 256分辨率(上图);扫描尺寸为60 μm × 30 μm，分辨率为512 × 256(下图)。
纳米精度测试定位精度
Bruker的原位SPM成像提供了与测试相同长度尺度的成像分辨率，实现了在纳米尺度上真正定量和准确的表征。测试现场的预测试SPM成像能够以纳米分辨率直接测量表面形貌(如微观结构、形貌、粗糙度)，对于在测试前避免表面缺陷至关重要。高精度±10nm的测试位置精度流线多相材料的测试，并允许微观结构(如形状，尺寸，或分布的畴)直接相关的机械性能。bob综合游戏此外，测试后的SPM成像提供了材料变形行为(如断裂、堆积)的定量表征和测试放置的验证。
分辨率高达4096 x 4096
布鲁克的SPM+将纳米机械SPM成像能力提升到一个全新的水平。使用SPM+，扫描尺寸和图像分辨率完全可定制，以满足您特定的样品分析需求。
