高分辨率的原位SPM成像
卓越的纳米力学测试结果
Bruker是原位扫描探针显微镜(SPM)成像技术的先驱，该技术将纳米力学和纳米摩擦学表征与高分辨率SPM成像直接结合起来。原位SPM技术利用与进行测试相同的探针对样品表面成像，使得图像无需离开测试位置即可在现场快速采集。Bruker的原位SPM成像能够提高测试的准确性、重复性和速度，因为非原位成像方法(如同时操作AFM)需要额外的时间将样品移动到另一个成像位置，并在所需的测试地点进行可靠的定位。
10 μm扫描尺寸，1024 × 1024分辨率，陨石样品的形貌图。
扫描尺寸和纵横轴分辨率可独立改变:30 μm × 30 μm扫描尺寸，256 × 256分辨率(上);扫描尺寸为60 μm × 30 μm，分辨率为512 × 256(下)。
纳米精度测试放置精度
Bruker的原位SPM成像提供了与测试相同长度尺度上的成像分辨率，能够在纳米尺度上实现真正的定量和准确的表征。测试现场的预测试SPM成像能够以纳米分辨率直接测量表面形貌(如微观结构、形貌、粗糙度)，这对于在测试前避免表面缺陷至关重要。高精度±10nm的测试位置精度使多相材料的测试流线化，并允许将微观结构(如形状、尺寸或域的分布)与力学性能直接相关。bob综合游戏此外，测试后SPM成像可以定量表征材料变形行为(如断裂、堆积)，并验证测试位置。
分辨率高达4096 x 4096
Bruker的SPM+将纳米机械SPM成像能力带到一个全新的水平。使用SPM+，扫描尺寸和图像分辨率是完全可定制的，以满足您特定的样品分析需求。
