地幔岩石学与钻石的来源

图中显示的是来自含钻石Newlands金伯利岩(南非，卡普瓦尔克拉通)的地幔石榴石尖晶石橄榄岩的SEM-XRF元素图。各种元素的强度表明样品中存在某些矿物;例如Ca(绿色)-斜辉石;Cr(蓝色)—铬铁矿;Al(黄色)-石榴石，K(橙色)交代。薄切片进行了分析在SEM MicroXRF．样品约为3厘米× 2厘米，作为一个单独的框架进行分析。每个像素的全光谱允许进一步的离线处理，如添加元素、从地图中提取光谱、地图量化或自动相位。

微xrf数据具有识别高能x射线线和样品中微量元素的优势。微xrf是一种小点分析(大约35微米)，尽管比电子束还大。相互作用体积比电子束大得多，且与单元和样品矩阵有关。因此，二维元素图可能会产生电子束和x射线生成的图之间的差异。低光谱背景可以探测到微量元素，这是电子束无法做到的。样品制备要求不同;例如，没有电荷效应，因此没有样品涂层。此外，由于信息的深度，不需要高质量的打磨。此外，只要样品具有一个平面，就可以对其进行分析。量化可以是无标准的，也可以是基于标准的。