用X射线光谱识别单个杂原子鉴定

纳米级材料中的个体杂原子经常在材料性质中发挥枢转作用。bob综合游戏为了获得最大控制材料特性，研究人员必须能够检测和识别具有不同厚bob综合游戏度和组成的样品中的各种杂原子。在这里，我们证明了在扫描透射电子显微镜中的具有能量分散X射线光谱的两相碳质纳米级混合物中单个Si，S，P和Ca杂原子的鉴定。为了充分展示技术的鲁棒性和对电子能量损失光谱的潜在优点进行单原子形状，将在样品厚度或杂原子种类上置于样品厚度或类型的优先约束。用X射线谱采集时间鉴定各种杂原子，范围为8至57s，归一化计数为0.096-0.007计数S-1 PA-1。通过最小化电子束光栅的过采样区域，通过最小化原子上的有效停留时间来实现最低时间/最高有效计数率。

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应用物理信第108卷，第16,163101（2016）;作者：R. M. stroud，T.C.Avejoy，M.Falke，N. D.Bassim，G. J.Corbin，N. Dellby，P.Hrncirik，A.Kaeppel，M. Noack，W.Hahn，M. Rohde和O. L. Krivanek。