微XRF的薄金属涂层的空间分辨层厚度分析
微XRF的金属涂层分析
彻底了解涂层厚度和沉积膜的组成对于在其生产过程中应用各种涂料的制造商至关重要。Bruker的空间分配分析能力M4龙卷风微XRF光谱仪和Xmethod涂层分析软件能够分析涂料组合物和点测量层厚度以及涂层区域的分布图。
该网络研讨会将讨论XMethod中的层模型以及使用M4龙卷风的应用这些分析方法。焦点将在不同基材上的金属涂层上，以及用于在印刷电路板（PCB）上的铜上的Au / Pd / Ni等不同的应用以及玻璃上的金属涂层。将进行校准标准结果的比较，以展示精度和再现性。
网络研讨会将在15分钟的Q＆A会议上进行一系列，我们的专家将回答您的问题。
谁该参加？
- 质量控制专家确保电子工业中薄金属涂层的厚度和组成
- 涂层质量控制技术人员负责PCB的涂料服务质量保证和失效分析bob电竞官方网站
- 研发研究人员
用于PCB（内存模块）的SN，BR，AU，BI，BI，CU，NI和SI的元素分布
玻璃基材上Al-Cu合金的组合物（左）和分析厚度（右）的空间分布
