缺陷和污染

CdTe监控

x射线衍射成像(XRDI，也称为x射线形貌成像)是用来成像完美(或接近完美)衬底的晶体缺陷。使用QC-RT上的虚拟狭缝，可以在模式下对样品进行成像，以观察划痕、位错和其他缺陷，但也可以在衬底内进行成像方向对比。

使用QC-RT上的虚拟狭缝，可以在模式下对样品进行成像，以观察划痕、位错和其他缺陷，但也可以在衬底内进行成像方向对比。

从相同的数据创建的图像

这些图像是由相同的数据创建的，并允许不同的长程和短程特征的图像通过不同的处理。