QC-RT
确定高价值基板中的缺陷
X射线衍射成像（XRDI）检查系统
强调
QC-RT
Bruker QC-RT是一种缺陷计量系统，使用反射模式下最新的X射线衍射成像（XRDI）技术，以识别高价值基板（例如CDTE和其他密集材料）中的缺陷。bob综合游戏由于X射线衍射的性质，并且与光学技术不同，晶圆不需要蚀刻或抛光即可看到缺陷。
特征
基于CDTE的底物的倾斜和缺陷
CDTE和CDHGTE广泛用于IR检测，尤其是用于夜视和薄膜太阳能电池。对于这些应用，生长晶体的质量变得很重要。QC-RT用于此类晶体的质量控制，并用于进一步开发这些底物的处理。
支持
支持
我们能帮你什么吗？
Bruker与我们的客户合作解决了现实世界中的应用程序问题。我们开发下一代技术，并帮助客户选择正确的系统和配件。在工具出售工具很久之后，这种合作伙伴关系继续通过培训和扩展服务。bob电竞官方网站
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