硅半导体的X射线计量
Bruker为薄膜计量提供世界上最先进和无损性的X射线技术解决方案。我们的表征解决方案涵盖了逻辑和内存中的全部处理。我们提供专业系统，用于识别衬底缺陷并执行EPI薄膜和高k电介质线路控制的前端，以及用于分析金属膜和晶片级包装凸块的专用仪器。这些系统还经常对SI功率晶体管的硬盘驱动材料，GAN进行硬盘驱动材料，以及PZT薄膜组成和相位监测的其他半导体计量应用。bob综合游戏
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我们能帮你什么吗？
Bruker与客户合作解决现实世界的应用问题。我们开发下一代技术，帮助客户选择合适的系统和配件。该伙伴关系继续通过培训和扩展服务，在销售工具后很久。bob电竞官方网站
我们培训的支持工程师团队，应用科学家和主题专家完全致力于最大限度地利用系统服务和升级以及应用程序支持和培训的生产力。bob电竞官方网站