光学三坐标测量机测量紧公差

µCMM

摘要三坐标测量机(CMM)是世界上第一个纯光学三坐标测量机，用于高精度测量非常紧的公差。用户结合触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势，只需一个传感器就可以测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。光学三坐标测量机提供了高几何精度的几个光学三维测量相对于其他，使测量小的表面细节在大的组件和精确地确定这些单独的测量相对于其他的位置。测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料，PCD, CFRP，陶瓷，铬，硅。bob娱乐平台bob综合游戏简单的操作通过单按钮解决方案，自动化和人体工程学控制元素，如专门设计的控制器。空气轴承轴与线性驱动，使无磨损使用和高度准确，快速测量。

E_{大学:Tr: ODS,迈普}= (0.8 + L/600) μm
E_{UniZ:圣:ODS,迈普}= 0.15 + L/50

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技术规格|µCMM

测量原理	非接触，光学，三维，基于变焦，包括垂直聚焦探测技术
测量点数	单量:X: 1720, Y: 1720, X X Y: 295万多重测量:高达5亿
定位体积(X X Y X Z)	310毫米x 310毫米x 310毫米= 29 791 000毫米³
轴的运动速度	高达100毫米/秒
同轴照明	LED同轴照明(彩色)，大功率，电子可控
系统监控	9个温度传感器(精度:±0.1 K)， 3个振动传感器，内部电流和电压监测，包括长期测井，可回收
三维精度10360 - 8^{给出的值基于ISO 10360-8和VDI 2617}	E_{大学:Tr: ODS,迈普}= (0.8 + L/600) μm (L in mm)^{轴精度基于ISO 10360-8。} E_{UniZ:圣:ODS,迈普}= (0.15 + L/50) μm (L in mm)^{有效的单一测量，高度步骤测量}

客观的		3000年wd8	1900年wd30	1500年wd23	1500年wd70	800年wd17	800年wd37	400年wd19	150年wd11
工作距离	毫米	8．8	30.	23.5	64.4	17．5	37	19	11
横向测量范围(X,Y) (X X Y)	毫米 mm²	5.26 27.64	3.29 10．8	2.63 6.91	2.63 6.91	1.32 1.71	1.32 1.71	0.66 0．43	０．２６ 0．06

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µCMM提供

直观的可用性，为多个用户设计

可测量表面的光谱在很大程度上与材料无关，包括工业中常用的所有材料和复合材料，从磨砂到抛光或镜面组件。bob综合游戏

高密度非接触和材料无关测量

Alicona测量系统提供了一个表面的功能-以及一个结合到一个系统的坐标测量系统。因此，您的质量保证变得更有成本效益，更容易执行和更有效地交付结果。

耐磨、高效使用

包括动轴在内的所有部件都是无接触操作的。空气轴承直线传动轴可实现无磨损操作，高精度、快速测量。这使得μCMM在生产中永久使用的理想。

新软件MetMax

从“我如何测量?”到“我测量什么?”

Focus-Variation技术

Alicona测量系统基于变焦技术，结合了表面粗糙度测量装置和形状测量系统的功能。每台Alicona测量仪器是一台表面测量装置、表面粗糙度测量系统、几何公差三维测量系统、微坐标测量系统．变焦技术结合了光学系统的小焦点深度，通过垂直扫描从焦点变化中提供地形和颜色信息．该系统的主要组成部分是一个精密光学系统，包含各种透镜系统，可以配备不同的目标，允许测量不同的分辨率。