Исследовательский FT-IR и QCL микроскоп

HYPERION II

HYPERION II - это универсальный FT-IR микроскоп для исследований и разработок. Гибкая комплектация под конкретную задачу, возможность объединения инфракрасной лазерной визуализации (QCL) и FT-IR в одном приборе.

FT-IR и QCL вместе

Аналитическая мощь и инновации

Banner HYPERION II

Основные моменты

Сильный. Точный. Гибкий.

Исследовательская платформа ИК-микроскопии и визуализации

Что нового в HYPERION II:

Мартен Сиба, менеджер по продукту, вел разработку HYPERION II от начала и до конца. Он подчеркивает значимость истории разработки HYPERION и рассказывает о новшевствах.

Как мы интегрировали инфракрасную лазерную визуализацию:

Наш пионер QCL и руководитель отдела лазерной микроскопии в Bruker, Нильс Крюгер-Луи, объясняет, почему сочетание FT-IR и QCL является настоящим переломным моментом для инфракрасной микроскопии.

Наше запатентованное снижение пространственной когерентности:

Наш инженер-разработчик Саша Рот (Sascha Roth) подробно рассказал о разработке запатентованной технологии уменьшения пространственной когерентности.

FT-IR микроскопия дополнена QCL | Инфракрасной лазерной визуализацией

HYPERION II - это инновация в инфракрасной микроскопии. Он обеспечивает ИК-визуализацию вплоть до дифракционного предела и задает новый эталон микроскопии ATR. Именно в нем впервые сочетаются FT-IR и инфракрасная лазерная визуализация (ILIM), благодаря чему в одном устройстве возможны все три режима измерения: пропускание, отражение и ATR.

Особенности HYPERION II:

  • Широкий выбор детекторов для μ-FT-IR:
    Широкополосные, среднеполосные, узкополосные LN2-MCT,термоэлектрически охлаждаемый (TE) MCT.
  • Матричный детектор для инфракрасной визуализации (64 x 64 или 128 x 128 пикселей).
  • Опция спектроскопии QCL на базе модуля лазерной инфракрасной визуализации (ILIM, лазер класса 1)
  • Выбор объектива: 3.5x/15x/36x/74x IR, 20x ATR, 15x GIR, 4x/40x VIS.
  • Расширение спектрального диапазона – от ближнего инфракрасного (NIR) до дальнего инфракрасного (FIR)
  • Выбор апертур: ручная и автоматизированная ножевая апертура. Металлические апертуры для NIR
  • Выбор аксессуаров и приндлежностей для пробоподготовки: аксессуар для макро ИК-визуализации, предметный столик для охлаждения/нагрева, защитный кожух и т.д.
  • Выбор устройств визуализации: подсветка Darkfield, флуоресцентная подсветка, поляризаторы VIS, ИК-поляризаторы и т.д.

HYPERION II обеспечивает:

  • Идеальное соответствие спектральных и визуальных изображений. Приминимо к любому режиму измерения (включая визуализацию ATR).
  • Чувствительность FT-IR микроскопии и визуализации с использованием детектора фокальной плоскости (FPA) ограничивается только дифракционным пределом.
  • Перваявисториикомбинациятехнологий红外иQCLс помощью (опционально) инфракрасного лазерного модуля визуализации (ILIM, лазерный класс 1).
  • Инфракрасная лазерная визуализация во всех режимах измерения (ATR, Transmission, Reflectance).
  • Запатентованная функция снижения когерентности при использовании лазерной визуализации без артефактов и потери чувствительности или скорости.
  • Высокая скорость визуализации:
    0,1 мм2в секунду (FPA, полный спектр)
    6,4 мм2в секунду (ILIM, единичное волновое число)
  • Дополнительный детектор TE-MCT для проведения ИК-микроскопии с высоким пространственным разрешением и чувствительностью без использования жидкого азота.
  • Возможность эмиссионной спектроскопии и дополнительное расширение спектрального диапазона.

Область применения HYPERION II:

  • Наука о жизни | визуализация клеток
  • Фармацевтика
  • Исследования излучательной способности (LED)
  • Анализ дефектов и их причин
  • Криминалистика
  • Микропластики
  • Промышленные НИОКР
  • Полимеры и пластмассы
  • Исследование поверхностей
  • Полупроводники

Особенности

Исследовательский микроскоп FT-IR для первопроходцев и новаторов

Вряд ли другой ИК-микроскоп может вдохновить наших пользователей так, как HYPERION II:
Точный, настраиваемый, адаптируемый и всегда на пределе возможного.

Полный контроль

Прежде всего, речь идет о полном доступе к инструменту. Полный доступ к эксперименту, образцам и параметрам. Это основа HYPERION II и его самый ценное свойство - обеспечение полного контроля.

Будь то FT-IR измерения в поточечном режиме, картирование или визуализация с различными детекторами или объективами, особенностями пробоподготоки или с помощью ATR или объектива Grazing Angle. В любой момент вы можете повлиять на результат ваших измерений и сделать их лучше.

Это явное отличие от нашегоИК-микроскопа LUMOS II.Там, где LUMOS II избавляет пользователя от многочисленных настроек эксперимента и автоматизирует процесс измерения, HYPERION II остается гибким инструментом, который делает только то, что требует пользователь.

Микроскоп HYPERION II с детектором MCT

Памятник своему прошлому

МногиепользователизнаютHYPERION IIиегосильные стороны благодаря предшественнику. В течение почти 20 лет он был двигателем инноваций в ИК-микроскопии и визуализации. То что сделало HYPERION выдающимся FT-IR микроскопом, сохранили, сделав лучше, быстрее и совершеннее.

HYPERION II по-прежнему имеет все функции, необходимые для ежедневных исследований: жидкий азот и термоэлектрически охлаждаемые MCT, детекторы визуализации в фокальной плоскости, визуальные и инфракрасные инструменты улучшения когерентности и, конечно же, обилие специальных принадлежностей.

В результате мы хотели создать новый эталон в FT-IR-микроскопии и визуализации и соответствовать нашему званию лидера инноваций, внедряя новые и захватывающие технологии, сохраняя при этом устоявшиеся и ценные решения.

HYPERION II ILIM и отсек для образцов (слева) и MCT матричным детектором (справа)

Расширение возможностей FT-IR с помощью инфракрасной лазерной визуализации (QCL)

QCL и FT-IR в одном приборе

Впервые пользователи могут получить доступ к ИК-микроскопу, который сочетает в себе технологии FT-IR и QCL в одном приборе. Таким образом, мы открываем новую дверь для наук о жизни и исследования материалов.

Зарегистрируйте спектр FT-IR, выберите колебания, которые вы хотите исследовать с помощью QCL, и создайте потрясающие химические изображения за считанные секунды.

Благодаря этому совершенно новому подходу FT-IR и инфракрасной лазерной визуализации мы, наконец, даем пользователям, исследователям и ученым инструмент для разработки новых применений, а также для улучшения устоявшихся и проверенных методов.

Настоящий микроскоп QCL с исключительной производительностью

HYPERION II предлагает бескомпромиссную сочетание QCL микроскопии с современным FT-IR микроскопом. Фактически, мы специально разработали и запатентовали новую технологию снижения когерентности, чтобы обеспечить непревзойденную производительность ИК-лазерной визуализации - без цифровой постобработки.

Для примера: в классической FT-IR спектроскопии пространственная когерентность не играет роли. Однако в ИК-микроскопических измерениях с QCL неизбежно возникают явления нарушения пространственной когерентности. Эти нуары и искажения на ИК-изображениях и спектрах, как правило, считаются дефектами химической визуализации (см. DOI:10.1002/jbio.201800015).

Отделение химической информации образца от физической, описывающей фазовые отношения рассеянных фотонов, представляет собой непростую задачу. HYPERION II подходит к этой проблеме прагматично, решает ее с помощью интеллектуального аппаратного дизайна и позволяет получать данные химической визуализации без артефактов.

Сравнение FT-IR и QCL спектроскопии

Заявление, что оба метода могут выполнять одну и ту же задачу одинаково хорошо, - популярное заблуждение. FT-IR и инфракрасная лазерная визуализация имеют явные преимущества, и только практическая комбинация обеих позволяет достичь наилучших результатов.

Мы знаем, что большинство ученых и исследователей не хотят отказываться от универсальности FT-IR. Им не нравится ограничиваться одной передовой техникой без точки отсчета. К счастью, HYPERION II можно считать как исключительным FT-IR микроскопом, так и амбициозным микроскопом QCL.

Мы рассмотрели эту двойственность, и там, где технология QCL записывает данные значительно быстрее при одном и том же сигнале к шуму, она по-прежнему ограничена небольшим диапазоном MIR. Опять же, мы остаемся верны концепции HYPERION II. Это Ваш выбор. У Вас есть полный контроль.

QCL-IR визуализация измерений полистирольных шариков. Слева: лазерная визуализация в среднем инфракрасном диапазоне с полной когерентностью. Справа: лазерная визуализация в среднем инфракрасном диапазоне со сниженной когерентностью. Источник: Артур Шёнхальс, Нильс Крёгер-Луи, Аннемари Пуччи, Вольфганг Петрич; О роли интерференции в лазерной средней инфракрасной широкоугольной микроспектроскопии, Journal of Biophotonics, 2018, Volume 11, Issue 7, DOI: 10.1002/jbio.201800015.


Помещение образца ткани под инфракрасный лазерный микроскоп HYPERION II

Применения

Приложения для ИК-микроскопии (FPA, MCT, QCL)

Анализ биологических тканей

Потенциал технологии QCL для наук о жизни огромен. Этот микротомный участок ткани миндарин был проанализирован путем наложения ИК-лазерного изображения на визуальные данные.

Материаловедение

ИК-визуализация позволяет легко анализировать многослойные структуры. Этот многослойный кусок краски был исследован с использованием изображений ATR высокого разрешения для определения причины автомобильной аварии.

Разработка лекарственных средств

Определить ингредиенты смеси еще никогда не было так просто. В этом случае фармацевтическую гранулу анализировали на наличие примесей. Примесь (красный) четко выделяется из матрицы API (синий).

Геология и минералогия

СпомощьюИнфракрасной лазерной визуализации оценивают минералы и их геохимические свойства. На примере показана дифференциация оксидных минералов на основе их отражательных свойств.

Судебные науки

ИК-микроскопия является выдающимся инструментом для криминалистики. В данном случае исследуются волокна для получения четких доказательств их происхождения. Ножевая апертура обеспечивает оптимальное спектральное качество.

Анализ микропластика

FT-IR визуализация является золотым стандартом в анализе микропластика, но ИК-лазерная визуализация наступает на пятки. Программное обеспечение обеспечивает автоматизированный анализ микропластика, включая отчеты о частицах и статистику.

Аксессуары

Дополнительная информация

Дополнительная литература

Узнайте больше о наших FT-IR микроскопах и решениях, загрузив связанную литературу.