化合物半导体的X射线计量
Bruker提供X射线计量工具，用于外延层薄膜的质量控制监测和广泛半导体薄膜和晶圆的详细研发分析。我们提供专门为生产环境的挑战性需求而设计的系统，以及支持当前和未来计量需求的多应用研发工具。
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我们能帮忙吗？
Bruker与我们的客户合作解决实际应用程序问题。我们开发新一代技术，帮助客户选择正确的系统和配件。这种合作关系将通过培训和扩展服务持续下去，直到工具售出很久。bob电竞官方网站
我们训练有素的支持工程师、应用科学家和主题专家团队致力于通过系统服务和升级以及应用程序支持和培训最大限度地提高您的生产力。bob电竞官方网站