顶点80/80V

光谱范围扩展

顶点80/80V可以选择配备光学组件，以覆盖从远红外或Terahertz，直到IR和可见的中间和可见的频谱范围，直到紫外线光谱范围。凭借其预先对准的光学组件和主动对齐的Ultrascan™干涉仪，范围更改和维护非常容易。

BMS-C：Bruker为顶点80V真空光谱仪提供了高精度Beamsplitter Exchange选项BMS-C。

因此，在真空条件下，远程控制的自动交换多达四种不同类型的梁插座。现在，可以测量从紫外线/vis到远/thz的完整频谱范围，而无需发泄光谱仪光学仪表以进行手动梁弹丸交换。

新的：布鲁克（Bruker）通过一个新的宽带远/thz beamsplitter扩展了可用的梁拼图范围，该范围为80/80V ft-ir光谱仪系列。特别是在半导体和其他无机材料的研究和开发中，新的遥远的固态beamsplitter将提供额外的值，因为它名义上涵盖了900厘米以上的光谱范围bob综合游戏^-1学会。5厘米^-1在一个测量中，将中红外与非常长的波WIR/THZ波长范围连接起来。

光学分辨率

顶点80和顶点80V标准配置提供了优于0.2 cm的抛光光谱分辨率^-1，对于大多数环境压力气相研究和室温样品测量值就足够了。对于高级低温工作，e。G。在较低压力下的结晶半导体材料或气相测量上，峰值分辨率高于0bob综合游戏.06 cm^-1可用。这是使用商业台式FT-IR光谱仪实现的最高光谱分辨率。可见光谱范围内的高分辨率光谱显示出更好的300,000：1的分辨能力（波数ν除以光谱分辨率∆ν）。

多功能性

创新的光学设计可提供最灵活，最可扩展的研发真空FT-IR光谱仪。在撤离的光学台上，获得了中，近和远的IR区域的峰值灵敏度，而不必担心会通过空气水蒸气吸收掩盖非常弱的光谱特征。出色的结果，例如在纳米科学研究的区域下降到少于10-3个单层，可以使用顶点80V真空FT-IR光谱仪获得。几乎没有关于灵活性的限制。右侧，左侧和左侧和两个光束输入端口的五个梁出口端口都可以使用光学台的右侧和后侧。这允许同时连接，例如，使用后侧输入端口，右侧出口梁的PMA 50极化调制附件，右前侧端口的光纤耦合，左侧侧端端口，左侧的光纤耦合，左侧的光纤耦合，左侧的光纤检测器左侧出口梁处的正面和Hyperion系列FT-IR显微镜。

Vertex 80系列是需要研究和开发应用的理想工具。

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使用的技术受到以下一项或多项专利的保护：US 7034944

顶点80和顶点80V光谱仪是顶点系列中的高端研究工具。他们的创新光学设计可导致最强大的台式清除和真空光谱仪。它们提供的光谱范围从UV/VIS区域（50000厘米）提供^-1）到FIR/THZ区域（5厘米^-1），最高光谱和时间分辨率以及无与伦比的灵活性水平。多功能顶点80/80V系统为其峰值技术提供了适合所有高端研究应用的正确解决方案。

研究和发展

• 连续和阶梯扫描技术用于振幅/相位调制光谱法
• 快速，交错和步骤扫描技术，用于具有高时间分辨率的实验（步骤扫描 /快速扫描 /交织TRS）
• 定期有序的微观材料的表征，称为超材料bob综合游戏
• 高分辨率光谱法进行气体分析，分辨率优于0.06 cm^-1
• 真空FT-IR光束线安装的仪器
• 酶催化实验的停止流量方法
• 超高真空测量室的外部适应
• FT-IR光谱电化学，用于电极表面和电解质的原位研究

制药

• 确定分子的绝对构型（VCD）
• 通过热分析（TG-FT-IR）对稳定性和挥发性药物的含量表征
• 远红外区域活性药物成分的多晶型物的分化

聚合物和化学

• 识别远红外区域中聚合物复合材料中的无机填充剂
• 聚合物的动态和风湿性研究
• 通过热分析（TGA-FT-IR）确定挥发性化合物和分解过程的表征
• 反应监测和反应控制（mir纤维探针）
• 鉴定无机矿物质和色素

表面分析

• 薄和单层的检测和表征
• 表面分析与极化调制（PM-IRRAS）结合

材料科学

• 光学和高度反射材料的表征（窗户，镜子）bob综合游戏
• 通过光声学光谱法（PAS）研究深色材料和深度bob综合游戏分析
• 材料发射行为的表征bob综合游戏

半导体

• 硅晶片中的氧气和碳含量的测定
• 低温透射率和光致发光（PL）测量质量控制的浅杂质

外部配件，来源和检测器

顶点80/80V光谱仪配备了五个梁出口端口和两个梁输入端口，并提供了将它们连接到外部激光器和同步器光源的可能性。此外，光谱仪光学器件可以很容易地使用外部测量配件，源和检测器升级。这包括以下内容：

• VCD和PM-IRRAS的PMA 50极化调制配件
• PL II光致发光模块
• RAM II FT-RAMAN模块和Ramanscope III FT-RAMAN显微镜
• tga-ft-ir耦合
• Hyperion系列FT-IR显微镜
• Hyperion 3000 ft-ir成像系统
• hts-xt高吞吐量筛选扩展
• iMac焦平面阵列宏观成像配件
• 外部样品室XSA，可撤离或可清理
• 外部真空紧密的UHV腔室适应
• 真空PL/PT/PR测量单元
• 低温液体HE或低温液体无低温器
• 纤维耦合单元与固体和液体的miR或NIR纤维探针
• 大型整合球
• 自动采样器设备

• 外部FIR HG来源
• 独特的范围mir-fir探测器
• 固态远处 / thz beamsplitter
• 外部排放适配器
• 外部高性能mir来源
• 外部高性能来源
• 外部真空4位检测器室（用于真空光学元件）
• 重测的重量表适应在FIR范围内检测
• 自动梁施交换单元（BMS-C）（用于真空光学器件）