使用唯一的轴心检测器同时在SEM中同时获取晶体学和元素信息
最快的同时进行TKD和EDS测量
使用Xflash Flatquad EDS检测器（TOP），Optimus 2检测器头（底部）和TKD样品固定器（中间），用于同时进行轴上TKD和ED映射的探测器样本几何形状和ED映射
Xflash Flatquad Eds检测器具有四个SDD芯片布局和一个直方图，显示其实体角度变化，并在SDD芯片和样品之间的距离差异
从氧化二氧化钛颗粒（亮灰色）和富含Yttrium的氧化钛颗粒（深灰色）中获得的氧化物分散剂强化（ODS）钢样品获得的BF样图像。使用5 Na探针电流和20 kV加速电压在3 s中获取图像。
TKD地图的模式质量图表示，同时获得EDS超图的速度为272分/秒。该测量的吞吐量计数率为约1 mcps。
EDS超图显示Ti分布（归一化原子％）
EDS超图显示Y分布（标准化质量％）
离线相位ID和重新分析后的最终相分布图（TKD结果）。铁氧体基质以红色显示，氧化钛颗粒以绿色显示，富含Yttrium的氧化钛颗粒以蓝色显示。
每个晶体学相的方向分布图（IPFZ）和相应着色方案