XFlash 6-60

用于纳米分析的大面积SDD
XFlash 6-60探测器

大的活动区域为60毫米2.芯片和纤细的线探测器手指一起提供了一个大的立体角。XFlash®因此,6-60预定用于X射线产率相对较低的应用,这在纳米分析领域很常见。由于探测器在Mn Kα和相应的C和F分辨率下也提供了非常好的能量分辨率,为126 eV,它还可以舒适地用于低能范围,这也是该领域的一项要求。

总之,XFlash®6-60具有以下优点:

  • 非常好的能量分辨率(在Mn Kα时为126 eV,在C Kα时为51 eV,在F Kα时为60 eV)
  • 在mnkα下,其他可用分辨率为129ev
  • 极高的脉冲负载能力
  • 优秀的轻元素和低能耗性能(元素范围Be-Am)
  • 没有复杂的、产生振动的冷却系统
  • 通电后立即可用
  • 低运营成本
  • 免维护操作
  • 小尺寸,包括纤细的手指线技术
  • 低重量

XFlash的建议应用领域®6-60是:

  • 用于SEM、微探针、FIB-SEM的EDS系统(可选焊接波纹管)
  • 结合EDS和高分辨率EBSD分析和eFlash FS
  • 纳米分析