XFlash 6 - 10
最佳分辨率的SDD
XFlash 6-10探测器
最新一代x射线探测器的核心是一个根据漂移室原理工作的硅片。
由于特殊的芯片设计与集成电荷放大器的XFlash®可以处理非常高的计数率，同时显示一个优秀的能量分辨率，无与伦比的任何其他硅基能量色散x射线探测器。
总之，XFlash®6-10提供以下优点:
- 杰出的能量分辨率(限量版，Mn Kα下121 eV, C Kα下38 eV, F Kα下47 eV)
- 其他可用的分辨率是123,126和129 eV在Mn Kα
- 极高的脉冲负载能力
- 优良的轻元素和低能量性能(Be - Am元素范围)
- 没有精密的、产生振动的冷却系统
- 上电后立即可用
- 低运营成本
- 不需维护的操作
- 尺寸小，包括细线技术手指
- 低体重
XFlash的建议应用领域®6 - 10:
- SEM、微探针、FIB-SEM的EDS系统(可选择焊接波纹管)
- 轻元素和低能量范围分析